汽車芯片IC車規(guī)AEC-Q100認(rèn)證

       AEC-Q100對IC的可靠性測試可細(xì)分為加速環(huán)境應(yīng)力可靠性、加速壽命模擬可靠性、封裝可靠性、晶圓制程可靠性、電學(xué)參數(shù)驗(yàn)證、缺陷篩查、包裝完整性試驗(yàn)，且需要根據(jù)器件所能承受的溫度等級選擇測試條件。需要注意的是，第三方難以獨(dú)立完成AEC-Q100的驗(yàn)證，需要晶圓供應(yīng)商、封測廠配合完成，這更加考驗(yàn)對認(rèn)證試驗(yàn)的整體把控能力。廣電計(jì)量將根據(jù)客戶的要求，依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)對客戶的IC進(jìn)行評估，出具合理的認(rèn)證方案，從而助力IC的可靠性認(rèn)證。

Tier 1 : OEM車用模塊/系統(tǒng)廠, 車用電子組件的End-User.

     Continental / Delphi / Johnson Con / Autoliv / Visteon…

Tier 2 : 使用/制造車用電子組件的廠商, 車用電子組件的Supplier.

     Altera / Analog Devices / Fairchild / Freescale / Infineon / NXP

     / ON semi. / NS / Maxim / TI / Xilinx…

Tier 3 : 提供支持與服務(wù)給予電子行業(yè), 車用電子的外包商.

      TSMC / GSMC…

Q100 : 主動(dòng)組件包含 Single / Multi / Hybrid / Package / Un-Package / Mount on substrate…

Q101 : 離散組件 包含 MOSFET / Diode / LED…

Q200 : 被動(dòng)組件 包括 Capacitor / Resistor / Crystal…

Q001~Q005 生產(chǎn)支持è設(shè)計(jì)/制造/測試以上組件的H/W & S/W生產(chǎn)系統(tǒng)的參考.  

AECQ100認(rèn)證測試周期：

3-4個(gè)月，提供全面的認(rèn)證計(jì)劃、測試、報(bào)告等服務(wù)。

AECQ100認(rèn)證測試地點(diǎn)：

廣電計(jì)量廣州總部、廣電計(jì)量上海試驗(yàn)室。

GRGT芯片測試能力：

芯片可靠性驗(yàn)證 ( RA)

芯片級預(yù)處理(PC) & MSL試驗(yàn) 、J-STD-020 & JESD22-A113 ；

高溫存儲(chǔ)試驗(yàn)(HTSL), JESD22-A103 ；

溫度循環(huán)試驗(yàn)(TC), JESD22-A104 ；

溫濕度試驗(yàn)(TH / THB), JESD22-A101 ；

高加速應(yīng)力試驗(yàn)(HTST / HAST), JESD22-A110；

高溫老化壽命試驗(yàn)(HTOL), JESD22-A108；

芯片靜電測試 ( ESD)：

人體放電模式測試(HBM), JS001 ；

元器件充放電模式測試(CDM), JS002 ；

閂鎖測試(LU), JESD78 ；

芯片IC失效分析 ( FA)： 

光學(xué)檢查(VI/OM) ；

掃描電鏡檢查(FIB/SEM)

微光分析定位(EMMI/InGaAs)；

OBIRCH ；

Micro-probe;

聚焦離子束微觀分析(FIB) ；

彈坑試驗(yàn)(cratering) ；

芯片開封(decap) ；

芯片去層(delayer)；

晶格缺陷試驗(yàn)(化學(xué)法)；

PN結(jié)染色 / 碼染色試驗(yàn)；

推拉力測試(WBP/WBS)；

紅墨水試驗(yàn)；

PCBA切片分析(X-section)；

芯片材料分析：

高分辨TEM (形貌、膜厚測量、電子衍射、STEM、HAADF)；

SEM (形貌觀察、截面觀察、膜厚測量、EBSD)；

Raman (Raman光譜)；

AFM (微觀表面形貌分析、臺階測量)；

       廣州廣電計(jì)量檢測股份有限公司（GRGT）失效分析實(shí)驗(yàn)室AEC-Q技術(shù)團(tuán)隊(duì)，執(zhí)行過大量的AEC-Q測試案例，積累了豐富的認(rèn)證試驗(yàn)經(jīng)驗(yàn)，可為您提供更專業(yè)、更可靠的AEC-Q認(rèn)證試驗(yàn)服務(wù)。

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GRGT李經(jīng)理+ 138-0884-0060；

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