大規(guī)模多芯片模塊車規(guī)AEC-Q104認(rèn)證

AEC-Q104

       AEC-Q104對多芯片模塊的可靠性測試可細(xì)分為加速環(huán)境應(yīng)力可靠性、加速壽命模擬可靠性、封裝可靠性、晶圓制程可靠性、電學(xué)參數(shù)驗證、缺陷篩查、包裝完整性試驗，且需要根據(jù)器件所能承受的溫度等級選擇測試條件。

       需要注意的是，第三方難以獨立完成AEC-Q104的驗證，需要晶圓供應(yīng)商、封測廠配合完成，這更加考驗對認(rèn)證試驗的整體把控能力。廣電計量將根據(jù)客戶的要求，依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)對客戶的IC進(jìn)行評估，出具合理的認(rèn)證方案，從而助力IC的可靠性認(rèn)證。

       如果成功完成根據(jù)本文件各要點需要的測試結(jié)果，那么將允許供應(yīng)商聲稱他們的零件通過了AEC Q104認(rèn)證。供應(yīng)商可以與客戶協(xié)商，可以在樣品尺寸和條件的認(rèn)證上比文件要求的要放寬些，但是只有完成要求實現(xiàn)的時候才能認(rèn)為零件通過了AEC Q104 認(rèn)證。

       若模塊中的所有器件（被動元器件、分立器件、芯片等）都以單獨完成了AECQ認(rèn)證，那么只需對模塊進(jìn)行AECQ104標(biāo)準(zhǔn)中H組測試項目，合格后即能申明模塊整體通過AECQ104認(rèn)證。

Tier 1 : OEM車用模塊/系統(tǒng)廠, 車用電子組件的End-User.

Tier 2 : 使用/制造車用電子組件的廠商, 車用電子組件的Supplier.

Tier 3 : 提供支持與服務(wù)給予電子行業(yè), 車用電子的外包商.

AECQ104認(rèn)證測試周期：

3-4個月，提供全面的認(rèn)證計劃、測試、報告等服務(wù)。

AECQ100認(rèn)證測試地點：

廣電計量廣州總部、廣電計量上海試驗室。

試驗后元器件失效分析項目：

① 形貌分析技術(shù)：體視顯微鏡、金相顯微鏡、X射線透視、聲學(xué)掃描顯微鏡、掃描電鏡、透射電鏡、聚焦離子束。

② 成分檢測技術(shù)：X射線能譜EDX、俄歇能譜AES、二次離子質(zhì)譜SIMS、光譜、色譜、質(zhì)譜。

③ 電分析技術(shù)：I-V曲線、半導(dǎo)體參數(shù)、LCR參數(shù)、集成電路參數(shù)、頻譜分析、ESD參數(shù)、電子探針、機(jī)械探針、絕緣耐壓、繼電器特性。

④ 開封制樣技術(shù)：化學(xué)開封、機(jī)械開封、等離子刻蝕、反應(yīng)離子刻蝕、化學(xué)腐蝕、切片。

⑤ 缺陷定位技術(shù)：液晶熱點、紅外熱像、電壓襯度、光發(fā)射顯微像、OBIRCH。

      廣州廣電計量檢測股份有限公司（GRGT）失效分析實驗室AEC-Q技術(shù)團(tuán)隊，執(zhí)行過大量的AEC-Q測試案例，積累了豐富的認(rèn)證試驗經(jīng)驗，可為您提供更專業(yè)、更可靠的AEC-Q認(rèn)證試驗服務(wù)。

大規(guī)模芯片（IC）AEC-Q104認(rèn)證測試業(yè)務(wù)咨詢及技術(shù)交流：

GRGT李工 138-0884-0060；

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