芯片可靠性驗(yàn)證、車規(guī)級(jí)認(rèn)證、失效分析

車載芯片車規(guī)認(rèn)證：

芯片車規(guī)認(rèn)證AECQ100；

多芯片模塊車規(guī)認(rèn)證AECQ104；

芯片可靠性驗(yàn)證 ( RA)：

芯片級(jí)預(yù)處理(PC) & MSL試驗(yàn) 、J-STD-020 & JESD22-A113 ；

高溫存儲(chǔ)試驗(yàn)(HTSL), JESD22-A103 ；

溫度循環(huán)試驗(yàn)(TC), JESD22-A104 ；

溫濕度試驗(yàn)(TH / THB), JESD22-A101 ；

高加速應(yīng)力試驗(yàn)(HTSL / HAST), JESD22-A110；

高溫老化壽命試驗(yàn)(HTOL), JESD22-A108；

芯片靜電測(cè)試 ( ESD)：

人體放電模式測(cè)試(HBM), JS001 ；

元器件充放電模式測(cè)試(CDM), JS002 ；

閂鎖測(cè)試(LU), JESD78 ；

TLP；Surge / EOS / EFT；

芯片IC失效分析 ( FA)：

光學(xué)檢查(VI/OM) ；

掃描電鏡檢查(FIB/SEM)

微光分析定位(EMMI/InGaAs)；

OBIRCH ；

Micro-probe;

       廣州廣電計(jì)量檢測(cè)股份有限公司（GRGT）始建于1964年，是原信息產(chǎn)業(yè)部電子602計(jì)量站，經(jīng)過50余年的發(fā)展，現(xiàn)已成為一家全國化、綜合性的國有第三方計(jì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)，專注于為客戶提供計(jì)量、檢測(cè)、認(rèn)證以及技術(shù)咨詢與培訓(xùn)等專業(yè)技術(shù)服務(wù)，在計(jì)量校準(zhǔn)、可靠性與環(huán)境試驗(yàn)、電磁兼容檢測(cè)等多個(gè)領(lǐng)域的技術(shù)能力及業(yè)務(wù)規(guī)模處于國內(nèi)領(lǐng)先水平。廣電計(jì)量的資質(zhì)能力處于行業(yè)領(lǐng)先水平，其中CNAS認(rèn)可3408項(xiàng)，CMA認(rèn)可1990項(xiàng)，CATL認(rèn)可覆蓋55個(gè)類別；在支撐各區(qū)域產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展過程中，廣電計(jì)量還獲眾多榮譽(yù)稱號(hào)。

汽車芯片可靠性驗(yàn)證及車規(guī)級(jí)認(rèn)證：

李紹政；138-0884-0060 ；

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