超大規(guī)模集成電路動態(tài)老煉與測試

       在半導體集成電路國產化、小型化、高集成、高性能要求的趨勢下，半異體行業(yè)引入了大量新材料、新工藝和新的器件結構，導致集成電路更高的缺陷密度。廣電計量提供超大規(guī)模集成電路動態(tài)老煉與測試技術服務，協(xié)助客戶保證及提高產品的可靠性和質量的一致性。

分析對象

       處理器、存儲器、AD/DA、接口芯片等大規(guī)模集成電路，DIP、SOP、BGA、PGA、OFP、PLCC、LCC等各種封裝。

超大規(guī)模集成電路動態(tài)老煉

       通過對大規(guī)模集成電路施加持定測試向量（有效測試向量）.激勵內在缺陷和錯誤形成響應，并通過電應力和熱應力的加速，在短時間內讓不良品表現(xiàn)出失效現(xiàn)象，并通過測試手段予以易除，以達到提高大規(guī)模集成申路使用可靠性的目的。

技術能力

信號頻率∶100MHZ ；

系統(tǒng)分區(qū)∶16區(qū)；

I/O通道數(shù)∶128路；

試驗溫度∶-10℃～+125℃

向量編程深度32M

超大規(guī)模集成電路測試

      超大規(guī)模集成電路測試是確定或評估大規(guī)模集成電路的功能和電性能的過程，是驗證設計、監(jiān)控生產、保證· 質量、分析失效以及指導應用的重裝手段。特別在集成電路生產后期和使用前期不良率驗證過程中，采用適當?shù)?#39;測試向量和全自動化的測試設備，可全面快速地識別不良產品，提高產品的交付可靠性。

技術能力

能進行動態(tài)功能測試、直流參數(shù)測試、交流參數(shù)測試；

能進行常溫測試、低溫測試、高溫測試，溫度范圍∶-55℃～+150℃ （土2℃）；

信號頻率∶≥200MHz，可升級；

I/O通道數(shù)∶512路；

廣電計量檢測集成電路測試、分析能力：

可靠性驗證 ( RA)：

芯片級預處理(PC) & MSL試驗 、J-STD-020 & JESD22-A113 ；

高溫存儲試驗(HTSL), JESD22-A103 ；

溫度循環(huán)試驗(TC), JESD22-A104 ；

溫濕度試驗(TH / THB), JESD22-A101 ；

高加速應力試驗(HTSL / HAST), JESD22-A110；

高溫老化壽命試驗(HTOL), JESD22-A108；

靜電測試 ( ESD)：

人體放電模式測試(HBM), JS001 ；

元器件充放電模式測試(CDM), JS002 ；

閂鎖測試(LU), JESD78 ；

TLP；Surge / EOS / EFT；

失效分析 ( FA)：

光學檢查(VI/OM) ；

掃描電鏡檢查(FIB/SEM)

微光分析定位(EMMI/InGaAs)；

OBIRCH ；

Micro-probe;

      廣州廣電計量檢測股份有限公司（GRGT）始建于1964年，是原信息產業(yè)部電子602計量站，經過50余年的發(fā)展，現(xiàn)已成為一家全國化、綜合性的國有第三方計量檢測機構。廣電計量的資質能力處于行業(yè)領先水平，其中CNAS認可3408項，CMA認可1990項，CATL認可覆蓋55個類別；在支撐各區(qū)域產業(yè)高質量發(fā)展過程中，廣電計量還獲眾多榮譽稱號。

      廣電計量打造了一支技術水平和服務意識俱佳的服務隊伍，現(xiàn)有員工4000多人，其中包括各領域專家和技術帶頭人50多人，博士后、博士30人，碩士380多人。

      廣電計量建有技術研究院，在新能源汽車、軌道交通、無線通信等領域，先后主持編寫30多項國家級和地方計量測試標準及規(guī)程，承擔50多項國家、省部級等重點科研項目，累計獲得專利授權247項，另獲得軟件著作權119項，積極推動了行業(yè)新技術的創(chuàng)新和產業(yè)化應用。

超大規(guī)模集成電路動態(tài)老煉與測試：

李紹政；138-0884-0060 ；

lisz @ grgtest.com