北京可靠性環(huán)境試驗中心

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對應法規(guī)：GJB548B、GJB360B、GJB128A
CNAS認可項目：是

北京可靠性環(huán)境試驗中心是由北京市創(chuàng)建的致力于電子產品實驗工程技術研究和技術服務的高新技術企業(yè)。由國家投資建設的實驗室，具有CNAS認可檢測實驗室、CNAS認可監(jiān)督檢查機構，CNAS認可輻照仿真評估機構，總裝認可鑒定檢測機構、電子產品可靠性檢測中心、航空電子元器件檢測站、進口集成電路篩選中心、北京集成電路測試中心、XX高可靠IP核評測、XX電子元器件檢測技術研究中心、XX電子元器件質量監(jiān)督檢查機構北京審查部等資質及授牌，可為您提供高可靠、長壽命、抗輻照、特種試驗、失效分析等技術服務，可以進行一下試驗： 1、可靠性氣候環(huán)境試驗：高低溫試驗、低溫貯存、低溫工作、高溫貯存、高溫工作、溫度循環(huán)、熱沖擊、穩(wěn)態(tài)濕熱、交變濕熱、鹽霧、常溫低氣壓、高低溫低氣壓、浸漬、淋雨、溫度快速變化、霉菌、飽和/非飽和蒸汽、熱真空、砂塵、臭氧暴露、熱釋氣、交變鹽霧、風壓、氣候順序、硫化氫、二氧化硫、積冰凍雨、雷擊/閃電 2、可靠性機械環(huán)境試驗：恒定加速度、機械沖擊、碰撞試驗、掃頻振動、隨機振動、擺臂離心加速度、響應譜沖擊、顛振試驗、運輸、四綜合試驗、高加速沖擊、自由跌落、炮振、三綜合振動 3、可靠性壽命試驗：穩(wěn)態(tài)壽命、高溫壽命、低溫壽命、老化試驗、老煉試驗 4、可靠性特種試驗：針刺、電磁兼容、靜電ESD/閂鎖、鍍層、射頻泄漏、易燃性 5、可靠性輻照試驗：太陽輻照、總劑量試驗、單粒子試驗、質子輻照試驗、中子單粒子試驗、中子輻照試驗、劑量率試驗、低劑量率、紫外輻照 6、可靠性DPA試驗：顆粒碰撞（PIND）、鍵合強度、芯片剪切強度、細檢漏、粗檢漏、可焊性、耐焊接熱、標志耐溶劑性、內部目檢、物理尺寸、內部水汽含量、SEM、超聲聲掃、X射線檢查如有以上試驗技術服務及可靠性試驗方面需求，請與我們聯(lián)系。

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