玻璃組件PID測(cè)試第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)晶體硅62804報(bào)告

安博檢測(cè)是國(guó)內(nèi)首家民營(yíng)光伏產(chǎn)品測(cè)試實(shí)驗(yàn)室，價(jià)格合理周期快，歡迎隨時(shí)來(lái)電來(lái)信咨詢，咨詢電話13480686521（微信同號(hào)）, QQ2213430959    郵箱：ivy.liu@anbotek.com   聯(lián)系人：劉工

我司（安博檢測(cè)）測(cè)試項(xiàng)目：LID光致衰減，PID(抗電勢(shì)誘導(dǎo)衰減)，TC,HF,DH,ML,OD,RC,HS等

1、在組件的PID衰減過(guò)程中，溫度因素起到加速老化衰減的作用非常明顯；

2、在組件的PID衰減過(guò)程中，水蒸氣分壓（濕度）作為組件PID衰減的主要“誘因”因素，在組件的PID衰減過(guò)程中起到關(guān)鍵性作用；

3、在組件的PID測(cè)試過(guò)程中，導(dǎo)電鋁箔能夠很好的保持組件玻璃表面和內(nèi)部電路之間的電場(chǎng)均勻，平衡個(gè)電池片之間的PID衰減作用非常明顯；

4、組件PID測(cè)試以60℃、85%RH、-1000V電壓、組件表面貼導(dǎo)電鋁箔為測(cè)試條件（環(huán)境），測(cè)試時(shí)間為96小時(shí)比較合適。按照IE61215標(biāo)準(zhǔn)相應(yīng)規(guī)定來(lái)判斷組件是否合格。

安博服務(wù)的產(chǎn)品有：

光伏組件，晶體硅組件，太陽(yáng)能板，光伏電池板，太陽(yáng)能光伏板，太陽(yáng)能電池板，光伏器件

太陽(yáng)能組件，光伏電池板，路燈光伏板，光伏電池片，晶體硅電池片，太陽(yáng)能電池片，太陽(yáng)能充電板，單晶光伏組件，多晶光伏組件，雙面電池組件，硅片組件，雙玻組件等