一、X-Ray測量鍍層厚度:

　　測試標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)：GB/T 16921-1997《金屬覆蓋層 厚度測量 X射線光譜方法》

　　測量方法:使用X-Ray熒光光譜儀測量覆蓋層的厚度，是利用X-Ray轟擊覆蓋層，然后接收器接受到覆蓋層中元素的特征X譜線，根據(jù)接受到譜線能量的大小，再與系統(tǒng)中預(yù)先設(shè)定的同元素能量大小及對應(yīng)的厚度值進(jìn)行比較，計算出各個覆蓋層的厚度。

　　適用范圍”使用X射線熒光光譜儀對電鍍層的厚度進(jìn)行測量。

　　測試范圍：理論最小測量值0.1μm

　　二、(顯微鏡法)鍍層厚度測量：

　　測試標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)：GB/T 6462-2005《金屬和氧化物覆蓋層厚度測量顯微鏡法》

　　測量方法:使用金相顯微鏡測量覆蓋層的厚度，是利用顯微鏡將覆蓋層的橫截面放大至1000倍以上，直接在顯示屏上顯示覆蓋層，然后用鼠標(biāo)移動十字交叉線分別瞄準(zhǔn)覆蓋層的起始線、分界線和終結(jié)線，測量出各個覆蓋層的厚度。

　　測試范圍：理論最小測量值1μm