AEC-Q100是AEC的第一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)，是由美國(guó)汽車電子協(xié)會(huì)AEC所制定的規(guī)范,AEC-Q100于1994年6月首次發(fā)表，經(jīng)過了十多年的發(fā)展，AEC-Q100已經(jīng)成為汽車電子系統(tǒng)的通用標(biāo)準(zhǔn)。對(duì)于汽車電子元器件來說AEC-Q100是最常見的應(yīng)力測(cè)試(Stress Test)認(rèn)證規(guī)范。

    AEC-Q100主要是針對(duì)車載應(yīng)用的集成電路產(chǎn)品所設(shè)計(jì)出的一套應(yīng)力測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),此規(guī)范對(duì)于提升產(chǎn)品信賴性品質(zhì)保證相當(dāng)重要。AEC-Q100是預(yù)防可能發(fā)生各種狀況或潛在的故障狀態(tài)，對(duì)每一個(gè)芯片進(jìn)行嚴(yán)格的質(zhì)量與可靠度確認(rèn)，特別對(duì)產(chǎn)品功能與性能進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范測(cè)試。