簡(jiǎn)介：

   超聲波顯微鏡 (SAT)是Scanning Acoustic Tomography 的簡(jiǎn)稱，又稱為SAM (Scanning Acoustic Microscope)。此檢測(cè)為應(yīng)用超聲波與不同密度材料的反射速率及能量不同的特性來(lái)進(jìn)行分析。 利用純水當(dāng)介質(zhì)傳輸超聲波信號(hào)，當(dāng)訊號(hào)遇到不同材料的界面時(shí)會(huì)部分反射及穿透，此種發(fā)射回波強(qiáng)度會(huì)因?yàn)椴牧厦芏炔煌兴町?，掃描聲學(xué)顯微鏡就是利用此特性，來(lái)檢驗(yàn)材料內(nèi)部的缺陷并依所接收的信號(hào)變化將之成像。

目的：

   無(wú)損檢測(cè)電子元器件、LED、金屬基板的分層、裂紋等缺陷（裂紋、分層、空洞等）；通過(guò)圖像對(duì)比度判別材料內(nèi)部聲阻抗差異、確定缺陷形狀和尺寸、確定缺陷方位。 

應(yīng)用范圍：

   塑料封裝IC、晶片、PCB、LED

測(cè)試步驟：

   確認(rèn)樣品類型、選擇頻率探頭、放置測(cè)量裝置中、選擇掃描模式、掃描圖像、缺陷分析 

依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：

   IPC/JEDEC J-STD-035 ,IPC/JEDEC J-STD-020, MIL-STD 883G, GJB 548B