跌落試驗(yàn) (Drop Test)
        * 參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T2423.8-1995；
　　* 測(cè)試條件：1.5m高度，20mm厚大理石地板。(對(duì)于觸摸屏手機(jī),跌落高度為1.3m)；
　　* 測(cè)試項(xiàng)目：電性能參數(shù)測(cè)試、功能測(cè)試、結(jié)構(gòu)測(cè)試、外觀測(cè)試；
　　* 試驗(yàn)方法：將手機(jī)處于開機(jī)狀態(tài)進(jìn)行跌落。對(duì)于直握手機(jī)，進(jìn)行6個(gè)面的自由跌落實(shí)驗(yàn)，每個(gè)面的跌落次數(shù)為1次，每個(gè)面跌落之后進(jìn)行外觀、結(jié)構(gòu)和功能檢查。對(duì)于翻蓋手機(jī)，進(jìn)行8個(gè)面的自由跌落實(shí)驗(yàn)；其中一半樣品合上翻蓋按直握手機(jī)的方法進(jìn)行跌落，另一半樣品在跌正面和背面時(shí)須打開翻蓋。跌落結(jié)束后對(duì)外觀、結(jié)構(gòu)和功能進(jìn)行檢查。
　　* 試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)外觀，結(jié)構(gòu)和功能符合要求。