日本日立 SU8010   冷場發(fā)射掃描電子顯微鏡（SEM+EDS）

主要配置：

能譜儀(EDS)；離子濺射儀（Au-Pd靶）等

主要用途：

用于有機和無機材料的微觀形貌結(jié)構(gòu)的研究，通過觀察微觀形貌以及元素的含量來控制樣品的質(zhì)量。

主要技術(shù)指標(biāo)：

分辨率：0.3nm；

加速電壓：0.1 ~ 30kV （0.1KV）；

具有高位和低位二次電子探測器；

樣品臺驅(qū)動：3軸馬達(dá)驅(qū)動(包含 兩軸手動)；

物鏡光闌: 4孔可調(diào)式，內(nèi)置加熱自清潔裝置

主要學(xué)科領(lǐng)域：

材料科學(xué),礦山工程技術(shù),能源科學(xué)技術(shù),航空、航天科學(xué)技術(shù)

服務(wù)技術(shù)領(lǐng)域：

新材料及生產(chǎn)工藝和設(shè)備,納米材料,其他