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CNAS認(rèn)可項(xiàng)目：是 - 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB548B-2005方法1008.1,半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB128A-1997方法1031、1032,電子及電氣元件試驗(yàn)方法 GJB360B-2009方法108,軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 GJB150.3A-2009,半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 GB/T4937-1995第Ⅲ篇第2條,電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) GB/T2423.2-2008試驗(yàn)B
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