檢測(cè)認(rèn)證人脈交流通訊錄
機(jī)電設(shè)備及電子電工產(chǎn)品溫度/低氣壓(高度)綜合試驗(yàn)檢測(cè)
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對(duì)應(yīng)法規(guī):
CNAS認(rèn)可項(xiàng)目:是
- GB/T2423.25-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn),GB/T2423.26-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn),GJB150.6-1986軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 溫度-高度試驗(yàn),MIL-STD-810F 環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn),IEC60068-2-40:1976 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法,IEC60068-2-41:1976 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法,GB/T2423.25-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn),GB/T2423.26-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程
北京強(qiáng)度環(huán)境研究所
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