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機電設(shè)備及電子電工產(chǎn)品低溫 試驗檢測
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對應(yīng)法規(guī)：
CNAS認可項目：是 - GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫,IEC 60068-2-1：2007 環(huán)境試驗 第2部分 試驗-試驗A：低溫試驗,GJB 150.4-1986 軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 低溫試驗,GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗,GJB 4.3-1983 艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 低溫試驗,GJB 4.4-1983 艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 低溫貯存試驗,MIL-STD-810F:2000 環(huán)境工程考慮與實驗室試驗 方法 502.4 低溫,GB/T 14710-2009 醫(yī)用電氣設(shè)備環(huán)境要求及試驗方法,ISO 16750-4:2010 道路車輛-電氣和電子設(shè)備環(huán)境條件和試驗 第4部分：
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