檢測認證人脈交流通訊錄
供應SU9000新型超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡
- 這真不是您需要的產(chǎn)品?
- 品 牌:
- 日本日子
- 產(chǎn)品介紹
立2011年新推出了SU9000超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡,達到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和STEM分辨率0.34nm。日立SU9000采取了全新改進的真空系統(tǒng)和電子光學系統(tǒng),不僅分辨率性能明顯提升,而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的Flashing操作,可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。
特點:
1. 新型電子光學系統(tǒng)設計達到掃描電鏡世界最高分辨率:二次電子0.4nm(30KV),STEM 0.34nm(30KV)。
2. Hitachi專利設計的E×B系統(tǒng),可以自由控制SE和BSE檢測信號。
3. 全新真空技術設計使得SU9000冷場發(fā)射電子束具有超穩(wěn)定和高亮度特點。
4. 全新物鏡設計顯著提高低加速電壓條件下的圖像分辨率。
5. STEM的明場像能夠調(diào)整信號檢測角度,明場像、暗場像和二次電子圖像可以同時顯示并拍攝照片。
6. 與FIB兼容的側插樣品桿提高更換樣品效率和高倍率圖像觀察效率。
項目 技術指標
二次電子分辨率 0.4nm (加速電壓30kV,放大倍率80萬倍)
1.2nm (加速電壓1kV,放大倍率25萬倍)
STEM分辨率 0.34nm(加速電壓30kV,晶格象)
觀測倍率 底片輸出 顯示器輸出
LM模式 80~10,000x 220~25,000x
HM模式 800~3,000,000x 2,200~8,000,000x
樣品臺 側插式樣品桿
樣品移動行程 X ±4.0mm
Y ±2.0mm
Z ±0.3mm
T ±40度
標準樣品臺 平面樣品臺:5.0mm×9.5mm×3.5mmH
截面樣品臺:2.0mm×6.0mm×5.0mmH
專用樣品臺 截面樣品臺:2.0mm×12.0mm×6.0mmH
雙傾截面樣品臺:0.8mm×8.5mm×3.5mmH
信號檢測器 二次電子探測器
TOP 探測器(選配)
BF/DF 雙STEM探測器(選配)
蘇州科帝斯懷特工業(yè)設備有限公司
廖映成
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