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檢測(cè)認(rèn)證人脈交流通訊錄
- 全自動(dòng)掃描電鏡主要用于雜質(zhì)或顆粒物的綜合評(píng)估，可以自動(dòng)獲取大量顆粒的微觀形貌 和成分信息，具體包括： 顆粒粒度分布 顆粒形貌分析 雜質(zhì)成分檢測(cè) 高分辨率成像（8 nm 分辨率） ParticleX 以掃描電鏡和能譜儀為基礎(chǔ)，結(jié)合自動(dòng)控制系統(tǒng)以及強(qiáng)大的數(shù)據(jù)庫系 統(tǒng)，可以全自動(dòng)對(duì)雜質(zhì)顆粒進(jìn)行快速識(shí)別、分析和分類統(tǒng)計(jì)，為客戶的研發(fā)以及生產(chǎn)提供快速、準(zhǔn)確和可靠的定量數(shù)據(jù)支持。 Phenom XL.jpg ParticleX 全自動(dòng)顆粒分析系統(tǒng) 產(chǎn)品參數(shù) 電子顯微鏡：200,000 倍 探測(cè)器：高靈敏度四分割背散射電子探測(cè)器 燈絲材料：1,500 小時(shí) CeB6 燈絲 分辨率：優(yōu)于 10 nm 放置環(huán)境：采用專業(yè)防震設(shè)計(jì)，可擺放于普通實(shí)驗(yàn)室或辦公室、廠房 加速電壓：4.8kV-20.5kV 連續(xù)可調(diào) 抽真空時(shí)間：小于 30 秒 能譜儀：可選配能譜儀 · 全自動(dòng)鋰電正負(fù)極雜質(zhì)分析 ParticleX 可以全自動(dòng)對(duì)正負(fù)極中的鐵類雜質(zhì)顆粒進(jìn)行快速識(shí)別、分析和分類統(tǒng)計(jì)， 整個(gè)過程無需人工參與。定量磁性雜質(zhì)顆粒的形態(tài)、數(shù)量和種類，以此判定是哪個(gè)生產(chǎn)環(huán)節(jié)出了問題。 · 全自動(dòng)鋼鐵夾雜物分析 ParticleX 為鋼鐵中夾雜物的分析提供了便捷、高效、可重現(xiàn)的分析工具。為鋼鐵材料的研發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量控制與評(píng)級(jí)提供了便利。 產(chǎn)品來源： http://www.desktopsem.com/Products-26538793.html https://www.chem17.com/st232783/product_36743914.html
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