檢測認證人脈交流通訊錄
- TXRF(全反射X熒光)分析原理是基于X熒光能譜法,但與X射線能譜形成對比的是,傳統(tǒng)能譜采用原級X光束以45°角轟擊樣品,而TXRF采用毫弧度的臨界角(接近于零度角)入射。由于采用此種近于切線方向的入射角,原級X光束幾乎可以全部被反射,照射在樣品表面后,可以很大程度上避免樣品載體吸收光束和減小散射的發(fā)生,同時減小了載體的背景和噪聲,亦可減少樣品使用量。
TX2000 將全反射和傳統(tǒng)的能量色散集成在同一臺儀器上,創(chuàng)新光學(xué)編碼器的步進電機,角度測量,軟件控制Mo/W靶可切換,采用高分辨、低背景的帕爾貼控溫硅漂移檢測器。
應(yīng)用范圍
TX2000 可檢測從鈉Na到钚Pu所有元素含量,可進行痕量或超痕量元素分析(ppt或pg),廣泛的應(yīng)用在環(huán)境分析(水、灰塵、沉積物、大氣懸浮物),制藥分析(生物體液和組織樣品中的有害元素),法醫(yī)學(xué)(微小證據(jù)分析),化學(xué)純度分析(酸、堿、鹽、溶劑、水、超純試劑),油品分析(原油、輕質(zhì)油、燃料油),染料分析(墨水、油漆、粉末),半導(dǎo)體材料分析,核材料工業(yè)(放射性元素分析)。
TXRF詳情:http://www.leemanchina.cn/Products-19374852.html
https://www.chem17.com/st284199/list_1085975.html
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