檢測認證人脈交流通訊錄
- OPTM 系列顯微分光膜厚儀
使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過絕.對反射率進行測量,可進行高精度膜厚度/光學(xué)常數(shù)分析。
可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度,例如各種膜、晶片、光學(xué)材料和多層膜。 測量時間上,能達到1秒/點的高速測量,并且搭載了 即使是初次使用的用戶,也可容易出分析光學(xué)常數(shù)的軟件。
頭部集成了薄膜厚度測量所需功能
通過顯微光譜法測量高精度絕.對反射率(多層膜厚度,光學(xué)常數(shù))
1點1秒高速測量
顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)(紫外至近紅外)
區(qū)域傳感器的安全機制
易于分析向?qū)В鯇W(xué)者也能夠進行光學(xué)常數(shù)分析
獨立測量頭對應(yīng)各種inline客制化需求
支持各種自定義
測量項目:
絕.對反射率測量
多層膜解析
光學(xué)常數(shù)分析(n:折射率,k:消光系數(shù))
顯微分光膜厚儀https://www.chem17.com/st469006/product_35599161.html
http://www.boming021.com/Products-37821551.html
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