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陜西天士立科技有限公司

檢測認證人脈交流通訊錄

晶體管動態(tài)特性測試系統(tǒng)ST-AC1200

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  • 品  牌:
  • 天士立
  • 主要規(guī)格:
  • ST-AC1200
  • 用  途:
  • 測試參數(shù)
    • 晶體管動態(tài)特性測試系統(tǒng)ST-AC1200

       

      晶體管動態(tài)特性測試系統(tǒng)ST-AC1200

      基礎(chǔ)信息

      高壓源:1200V(選配2000V)

      高流源:100A(選配200A/300A/500A)

      驅(qū)動電壓:±20V(選配±30V)

      時間分辨率:1ns(選配400ps/200ps/100ps)

      系統(tǒng)雜感:<20nH

      測試對象:Si(SiC/GaN)IGBT,Diode,MOSFET(選配BJT)

      變溫測試:常溫~150℃/200℃

      感性負載:程控電感(0.01~160mH,步進10uH)

      阻性負載:程控電阻(1Ω,2Ω,5Ω,10Ω,50Ω)備用三個

      測試管型:可以測試N溝道和P溝道的IGBTs,MOSFETs

      測試標(biāo)準:IEC60747-9/IEC60747-2,GB/T29332/GB/T4023

       

      晶體管動態(tài)特性測試系統(tǒng)ST-AC1200

      技術(shù)特點

      專注寬禁帶功率器件動態(tài)參數(shù)評測,軟件程控,測試條件界面化輸入,系統(tǒng)閉環(huán)處理,自動調(diào)節(jié)一鍵測試;

      采用光纖驅(qū)動信號通訊,響應(yīng)速度快,抗干擾能力強;

      自動加熱可由室溫~200℃,精度±0.1℃;

      測試結(jié)果Excel,JPEG波形,波形任意縮放細節(jié)展寬分析

      測試主功率回路寄生電感Ls<10nH(實測);

      柵極驅(qū)動電阻Rg端口開放,按設(shè)定條件匹配電阻;

      DualARM控核,DSP數(shù)據(jù)采樣計算,極大減少控制時延誤差;

       

      晶體管動態(tài)特性測試系統(tǒng)ST-AC1200

      試驗?zāi)芰?/strong>

      標(biāo)配,開通特性測試單元/Turn_ON 

      標(biāo)配,關(guān)斷特性測試單元/Turn_OFF 

      標(biāo)配,二極管反向恢復(fù)測試單元/Trr 

      標(biāo)配,柵電荷測試單元/Qg¨

      ¨選配,容阻測試單元/CR¨

      ¨選配,短路測試單元/SC¨

      ¨選配,雪崩測試單元/UIS¨

      ¨選配,安全工作區(qū)單元/SOA¨

      ¨選配,動態(tài)電阻單元/

       

      晶體管動態(tài)特性測試系統(tǒng)ST-AC1200

      參數(shù)指標(biāo)

       

       標(biāo)配(阻性/感性)開關(guān)測試單元 / Turn_ON/OFF

      漏極電壓: 5V-1200V, 分辨率 1V

      漏極電流: 1A-100A, 分辨率1A;

      柵極驅(qū)動: ±20V (選配±30V), 分辨率 0.1V

      柵極電流: 2A/MAX

      脈沖寬度: 1us-500us,步進 0.1us

      時間精度: 1ns

      感性負載: 0.01mH-160mH 程序控制, 步進 10uH

      阻性負載: 1Ω、2Ω、5Ω、10Ω、50Ω ,  程控, 備用三個電阻

      開關(guān)時間: ton/toff: 1-10000ns分辨率1ns (選配400/200/100ps)

      開關(guān)延遲: td(on)/td(off): 0.1-10000ns@1ns (選配400/200/100ps)

      上下時間/tr/tf: 1-10000ns分辨率1ns (選配400/200/100ps)

      開關(guān)損耗/ Eon/Eoff: 1-2000mJ 最小分辨率 1uJ

       

       

       標(biāo)配  柵極電荷單元 / Qg

      驅(qū)動電流: 0-2mA, 分辨率 0.01mA

      2-20mA, 分辨率 0.1mA

      20mA-200mA, 分辨率 1mA

      柵極電壓: ±20V (選配±30V) @0.1V

      恒流源負載: 1-25A, 分辨率0.1A

      25-100A(選配200A/300A)@1A

      漏極電壓: 5-100V, 步進 0.1V

      100-1200V, 步進 1.0V

      柵極電荷 Qg: 1nC-100µC

      漏極電荷 Qgs: 1nC-100µC

      源極電荷 Qgd: 1nC-100µC

      平臺電壓 Vgp: 0~30V, 分辨率 0.1V

       

       標(biāo)配  二極管反向恢復(fù)測試單元 / Qrr_FRD

      正向電流: 1A-25A, 分辨率 0.1A

      25A-100A (選配200A/300A) 分辨率 1A

      反向電壓: 5v-100V, 步進 0.1V

      100V-1200V, 步進 1.0v

      反向恢復(fù)時間 Trr: 1-10000ns, 最小分辨率1ns (選配400/200/100ps)

      反向恢復(fù)電荷 Qrr: 1nC-100µC, 最小分辨率 1nC;

      反向恢復(fù)電流 Irm: 1A-100A (選配200A/300A);

      反向恢復(fù)損耗 Erec: 1-2000mJ, 最小分辨率 1uJ;

      電流下降率 dif/dt: 50-1kA/us;

      電壓變化率 dv/dt: 50-1kV/us。

       

      ¨ 選配  短路特性測試單元/ SC

      電流: 1000A/MAX

      脈寬: 1us~100us

      柵驅(qū)電壓: ±20V (選配±30V) @0.1V

      漏極電壓: 5V~100V, 0.1V 分辨率

      100V~1200V, 1.0V 分辨率

       

      ¨ 選配  雪崩測試單元 / UIS

      雪崩耐量/EAS: 100J

      雪崩擊穿電壓/2500V

      雪崩電流/IAS: 1.0-400A 分辨率 1.0A

      感性負載/0.01-160mH@10μH, 程控可調(diào)

       

      ¨ 選配  容阻測試單元 / CR

      掃頻范圍: 0.1MHz~5MHz

      漏源極電壓: 1200V, 分辨率 1V

       

      ¨ 選配  動態(tài)電阻Ron,dy

       

      晶體管動態(tài)特性測試系統(tǒng)ST-AC1200


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