檢測(cè)認(rèn)證人脈交流通訊錄
- 高低溫沖擊試驗(yàn)箱 產(chǎn)品特點(diǎn)及用途l 適用于電工、電子零部件、半導(dǎo)體、電子線路板、金屬材料、軸承、顯示屏等各種材料，在溫度急劇變化環(huán)境下對(duì)產(chǎn)品的破壞性能試驗(yàn)；l 試驗(yàn)箱上部為高溫區(qū)，下部為低溫區(qū)，試件放置在試驗(yàn)箱中部工作室內(nèi)，高溫沖擊時(shí)上風(fēng)門(mén)打開(kāi)，形成高溫內(nèi)循環(huán)。低溫沖擊時(shí)，上風(fēng)門(mén)關(guān)閉，下風(fēng)門(mén)打開(kāi)，形成低溫內(nèi)循環(huán)，如有需要還可以與環(huán)境溫度連通，形成三箱法實(shí)驗(yàn)；l 試件靜止不動(dòng)，避免了因試件移動(dòng)帶來(lái)之諸多不便；l 中英文界面，數(shù)字顯示，直觀易讀；l 溫度偏移修正，滿(mǎn)足您更為準(zhǔn)確的實(shí)驗(yàn)要求；l 主要零部件采用進(jìn)口件，確保試驗(yàn)箱具有極高的可靠性；l 多重保護(hù)功能，確保試驗(yàn)箱具有極高的可靠性。高低溫沖擊試驗(yàn)箱 執(zhí)行及滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)l GB-2423.1 低溫試驗(yàn)方法；l GB-2423.2 高溫試驗(yàn)方法；l GB-2423.22 溫度沖擊試驗(yàn)；l GJB150.5 溫度沖擊試驗(yàn)；l MIL-STD-810F-503.4高低溫沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)l 溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃l 溫度偏差：≤±2℃l 高溫室升溫時(shí)間：RT～200℃ ≤30minl 低溫室降溫時(shí)間：RT～-60℃ ≤60minl 溫度恢復(fù) 時(shí) 間：≤5minl 風(fēng) 門(mén) 開(kāi) 啟：≤5s
高低溫沖擊試驗(yàn)箱規(guī)格尺寸 名稱(chēng) 型號(hào) 工作室尺寸長(zhǎng)*寬*高mm 溫度范圍 功率（KW） 電源 凈重（KG） 外型尺寸長(zhǎng)*寬*高（mm) 高低溫沖擊試驗(yàn)箱 WGDC-4005 350*360*400 -20℃～150℃ 15 380V/50HZ 600 1200*1270*2000 WGD-4010 450*450*500 20 380V/50HZ 900 1420*1500*2200 WGDC-4020 600*600*600 28 380V/50HZ 1200 1580*1600*2300 WGDC-6005 350*360*400 -40℃～150℃ 25 380V/50HZ 700 1200*1270*2000 WGDC-6010 450*450*500 32 380V/50HZ 1000 1420*1500*2200 WGDC-6020 600*600*600 40 380V/50HZ 1250 1580*1600*2300 WGDC-8005 350*360*400 -60℃～150℃ 30 380V/50HZ 800 1200*1270*2000 WGDC-8010 450*450*500 38 380V/50HZ 1100 1420*1500*2200 WGDC-8020 600*600*600 48 380V/50HZ 1350 1580*1600*2300
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