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平面平晶Φ 30 直徑3.mm

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品　　牌：

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出廠價：
198

主要規(guī)格：
Φ 30 Φ 45 Φ 60 Φ 80

用　　途：
面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件

*平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。
*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件，例如，平面光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別適用于計量單位、實驗室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。

平面平晶的技術(shù)參數(shù)（備注：特殊規(guī)格、特殊材料平晶可定做）
　

平面直徑d(mm)	基本參數(shù)
	1級		2級
	d范圍內(nèi)	2/3d范圍內(nèi)	d范圍內(nèi)	2/3d范圍內(nèi)
30 45 60	0.03	----	0.1	0.05
80 100 150	0.05	0.03	0.1	0.05
200 250 300	0.08 0.1 0.15	0.05 0.05 0.09	0.12 0.15 0.2	0.06 0.08 0.1

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劉加奇

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