檢測(cè)認(rèn)證人脈交流通訊錄
SunScan作物冠層分析系統(tǒng)，植物冠層分析儀，林地冠層分析儀
用途：通過(guò)測(cè)量作物冠層PAR值提供了關(guān)于影響田間作物生長(zhǎng)的限制因素的有價(jià)值的信息，如葉面積指數(shù)(LAI)。SunScan探測(cè)器也可被用來(lái)描繪作物冠層PAR的分布圖。
原理：根據(jù)冠層吸收的Beer法則、Wood的SunScan冠層分析方程以及Campbell的橢圓葉面角度分布方程(Campbell’s Ellipsoidal LAD equations)，使用光量子傳感器來(lái)測(cè)量、計(jì)算和分析植物冠層截獲和穿透的光合有效輻射及葉面積指數(shù)。
產(chǎn)地：英國(guó)
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