檢測認證人脈交流通訊錄
- 儀器名稱：電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)
- 價格型號：ELAN DRC II
- 儀器分類：其它
- 應用領域：
- 所屬單位：常州天合光能有限公司
- 所在地點：
- 產(chǎn) 地：
- 產(chǎn) 商：美國珀金埃爾默儀器有限公司
- 價 值：0
- 購置日期：0000-00-00
技術(shù)指標：檢出極限<10ppb 備注： 本設備可進行多種測試，測試種類和費用如下： 1）硅片表面金屬雜質(zhì)含量的測試The surface of a silicon wafer metal impurity content test，費用：865.4RMB； 2）硅材料中體金屬雜質(zhì)含量的測試The content of bulk metal impurities in silicon test，費用：865.4RMB； 3）酸液中金屬雜質(zhì)含量的測試Metal impurities in the acid solution in the test，費用648.6RMB；
儀器用途：測試
收費標準：865.4
機組負責人：顧曉慶 13775080021 xiaoqing.gu@trinasolar.com
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