檢測(cè)認(rèn)證人脈交流通訊錄
半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器讀周期時(shí)間tRC檢測(cè)
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對(duì)應(yīng)法規(guī):
CNAS認(rèn)可項(xiàng)目:是
- SJ/T10739-1996半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試方法的基本原理
上海精密計(jì)量測(cè)試研究所
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