廣州廣電計(jì)量檢測(cè)股份有限公司

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對(duì)應(yīng)法規(guī)：AEC-Q100
CNAS認(rèn)可項(xiàng)目：否

集成電路應(yīng)力測(cè)試認(rèn)證

附件標(biāo)準(zhǔn)

AEC-Q100-001 邦線切應(yīng)力測(cè)試

AEC-Q100-002 人體模式靜電放電測(cè)試

AEC-Q100-003 機(jī)械模式靜電放電測(cè)試

AEC-Q100-004 集成電路閂鎖效應(yīng)測(cè)試

AEC-Q100-005 可寫(xiě)可擦除的永久性記憶的耐久性、數(shù)據(jù)保持及工作壽命的測(cè)試

AEC-Q100-006 熱電效應(yīng)引起的寄生閘極漏電流測(cè)試

AEC-Q100-007 故障仿真和測(cè)試等級(jí)

AEC-Q100-008 早期壽命失效率（ELFR）

AEC-Q100-009 電分配的評(píng)估

AEC-Q100-010 錫球剪切測(cè)試

AEC-Q100-011 帶電器件模式的靜電放電測(cè)試

AEC-Q100-012 12V 系統(tǒng)靈敏功率設(shè)備的短路可靠性描述

A測(cè)試組

室溫測(cè)試

預(yù)處理室溫測(cè)試

高溫測(cè)試

高溫貯存

壽命試驗(yàn)

高溫測(cè)試

功率

溫度循環(huán)

*

有偏溫濕度或高加速應(yīng)力測(cè)試

溫度循環(huán)

高壓或無(wú)偏高加速應(yīng)力測(cè)試或溫濕度（無(wú)偏）

室溫和高溫測(cè)試

邦線拉力

高溫測(cè)試室溫測(cè)試

B組測(cè)試

室溫高溫低溫測(cè)試

高溫工作壽命試驗(yàn)

室溫高溫低溫試驗(yàn)

室溫和高溫測(cè)試

早期壽命故障率

非易失性存儲(chǔ)器耐久力，數(shù)據(jù)保持能力，工作壽命

室溫和高溫測(cè)試

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