汽車芯片IC、集成電路車規(guī)AEC-Q100認(rèn)證

AEC-Q100認(rèn)證是什么？

       IC作為重要的車載元器件部件，是AEC委員會(huì)持續(xù)關(guān)注的重點(diǎn)領(lǐng)域。AEC-Q100對(duì)IC的可靠性測(cè)試可細(xì)分為加速環(huán)境應(yīng)力可靠性、加速壽命模擬可靠性、封裝可靠性、晶圓制程可靠性、電學(xué)參數(shù)驗(yàn)證、缺陷篩查、包裝完整性試驗(yàn)，且需要根據(jù)器件所能承受的溫度等級(jí)選擇測(cè)試條件。需要注意的是，第三方難以獨(dú)立完成AEC-Q100的驗(yàn)證，需要晶圓供應(yīng)商、封測(cè)廠配合完成，這更加考驗(yàn)對(duì)認(rèn)證試驗(yàn)的整體把控能力。廣電計(jì)量將根據(jù)客戶的要求，依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)客戶的IC進(jìn)行評(píng)估，出具合理的認(rèn)證方案，從而助力IC的可靠性認(rèn)證。

      如果成功完成根據(jù)本文件各要點(diǎn)需要的測(cè)試結(jié)果，那么將允許供應(yīng)商聲稱他們的零件通過了AEC Q100 認(rèn)證。供應(yīng)商可以與客戶協(xié)商，可以在樣品尺寸和條件的認(rèn)證上比文件要求的要放寬些，但是只有完成要求實(shí)現(xiàn)的時(shí)候才能認(rèn)為零件通過了AEC Q100 認(rèn)證。

AEC-Q100認(rèn)證的要求及目的

測(cè)試樣品：

1）批次要求：測(cè)試樣品應(yīng)該由認(rèn)證家族中有代表性的器件構(gòu)成，由于缺少通用數(shù)據(jù)就需要有多批次的測(cè)試，表1 中列出的測(cè)試樣品必須是由非連續(xù)晶圓批次中近似均等的數(shù)量組成，并在非連續(xù)成型批次中裝配。即樣品在生產(chǎn)廠里必須是分散的，或者裝配加工線至少有一個(gè)非認(rèn)證批次；

2）生產(chǎn)要求：所有認(rèn)證器件都應(yīng)在制造場(chǎng)所加工處理，有助于量產(chǎn)時(shí)零件的傳輸。其他電測(cè)試場(chǎng)所可以在其電性質(zhì)證實(shí)有效后用于電測(cè)量。

3）測(cè)試樣品的再利用：已經(jīng)用來做非破壞性認(rèn)證測(cè)試的器件可以用來做其他認(rèn)證測(cè)試，而做過破壞性認(rèn)證測(cè)試的器件則除了工程分析外不能再使用；

4）樣品尺寸要求

      用于認(rèn)證測(cè)試的樣品尺寸與（或）提交的通用數(shù)據(jù)必須與表1中指定的最小樣品尺寸和接受標(biāo)準(zhǔn)相一致。如果供應(yīng)商選擇使用通用數(shù)據(jù)來認(rèn)證，則特殊的測(cè)試條件和結(jié)果必須記錄并對(duì)使用者有可用性?，F(xiàn)有可用的通用數(shù)據(jù)應(yīng)首先滿足這些要求和表1的每個(gè)測(cè)試要求。如果通用數(shù)據(jù)不能滿足這些要求，就要進(jìn)行器件特殊認(rèn)證測(cè)試。

5)預(yù)前應(yīng)力測(cè)試和應(yīng)力測(cè)試后要求：表1中的附加要求欄為每個(gè)測(cè)試指定了終端測(cè)試溫度（室溫、高溫和低溫）。溫度特殊值必須設(shè)有最差情況，即每個(gè)測(cè)試中用至少一個(gè)批次的

通用數(shù)據(jù)和器件特殊數(shù)據(jù)來設(shè)置溫度等級(jí)極端。

6）應(yīng)力測(cè)試失效后的定義：

      測(cè)試失效定義為設(shè)備不符合測(cè)試的器件規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范，或是供應(yīng)商的數(shù)據(jù)表，任何由于環(huán)境測(cè)試導(dǎo)致的外部物理破壞的器件也要被認(rèn)為是失效的器件。如果失效的原因被廠商和使用者認(rèn)為是非正確運(yùn)轉(zhuǎn)、靜電放電或一些其他與測(cè)試條件不相關(guān)的原因，失效就算不上，但作為數(shù)據(jù)提交的一部份上報(bào)。

AEC-Q100試驗(yàn)后元器件失效分析項(xiàng)目：

① 形貌分析技術(shù)：體視顯微鏡、金相顯微鏡、X射線透視、聲學(xué)掃描顯微鏡、掃描電鏡、透射電鏡、聚焦離子束。

② 成分檢測(cè)技術(shù)：X射線能譜EDX、俄歇能譜AES、二次離子質(zhì)譜SIMS、光譜、色譜、質(zhì)譜

③ 電分析技術(shù)：I-V曲線、半導(dǎo)體參數(shù)、LCR參數(shù)、集成電路參數(shù)、頻譜分析、ESD參數(shù)、電子探針、機(jī)械探針、絕緣耐壓、繼電器特性。

④ 開封制樣技術(shù)：化學(xué)開封、機(jī)械開封、等離子刻蝕、反應(yīng)離子刻蝕、化學(xué)腐蝕、切片。

⑤ 缺陷定位技術(shù)：液晶熱點(diǎn)、紅外熱像、電壓襯度、光發(fā)射顯微像、OBIRCH。

AECQ100認(rèn)證測(cè)試、報(bào)告周期：

3-4個(gè)月，提供全面的認(rèn)證計(jì)劃、測(cè)試、報(bào)告等服務(wù)。

AECQ100測(cè)試地點(diǎn)：

廣電計(jì)量廣州總部、廣電計(jì)量上海試驗(yàn)室。

      廣州廣電計(jì)量檢測(cè)股份有限公司（GRGT）是原國(guó)家信息產(chǎn)業(yè)部軍工電子602計(jì)量測(cè)試站，通過國(guó)家實(shí)驗(yàn)室（CNAS）、國(guó)防實(shí)驗(yàn)室（DILAC）和總裝實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可，并通過中國(guó)計(jì)量認(rèn)證（CMA），是中國(guó)CB實(shí)驗(yàn)室，建立企業(yè)計(jì)量最高標(biāo)準(zhǔn)80多項(xiàng)，通過CNAS、DILAC認(rèn)可項(xiàng)目1000多項(xiàng)。

      廣電計(jì)量失效分析實(shí)驗(yàn)室AEC-Q技術(shù)團(tuán)隊(duì)，執(zhí)行過大量的AEC-Q測(cè)試案例，積累了豐富的認(rèn)證試驗(yàn)經(jīng)驗(yàn)，可為您提供更專業(yè)、更可靠的AEC-Q認(rèn)證試驗(yàn)服務(wù)。

車載芯片、集成電路AEC-Q100認(rèn)證測(cè)試：

李紹政（業(yè)務(wù)經(jīng)理） 138-0884-0060（微信同號(hào)）

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