汽車芯片車規(guī)級(jí)認(rèn)證：AEC-Q100

AEC-Q100認(rèn)證是什么

      AEC-Q100對(duì)IC的可靠性測(cè)試可細(xì)分為加速環(huán)境應(yīng)力可靠性、加速壽命模擬可靠性、封裝可靠性、晶圓制程可靠性、電學(xué)參數(shù)驗(yàn)證、缺陷篩查、包裝完整性試驗(yàn)，且需要根據(jù)器件所能承受的溫度等級(jí)選擇測(cè)試條件。需要注意的是，第三方難以獨(dú)立完成AEC-Q100的驗(yàn)證，需要晶圓供應(yīng)商、封測(cè)廠配合完成，這更加考驗(yàn)對(duì)認(rèn)證試驗(yàn)的整體把控能力。廣電計(jì)量將根據(jù)客戶的要求，依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)客戶的IC進(jìn)行評(píng)估，出具合理的認(rèn)證方案，從而助力IC的可靠性認(rèn)證。

      如果成功完成根據(jù)本文件各要點(diǎn)需要的測(cè)試結(jié)果，那么將允許供應(yīng)商聲稱他們的零件通過(guò)了AEC Q100 認(rèn)證。供應(yīng)商可以與客戶協(xié)商，可以在樣品尺寸和條件的認(rèn)證上比文件要求的要放寬些，但是只有完成要求實(shí)現(xiàn)的時(shí)候才能認(rèn)為零件通過(guò)了AEC Q100 認(rèn)證。

Tier 1 : OEM車用模塊/系統(tǒng)廠, 車用電子組件的End-User.

     Continental / Delphi / Johnson Con / Autoliv / Visteon… 

Tier 2 : 使用/制造車用電子組件的廠商, 車用電子組件的Supplier.

     Altera / Analog Devices / Fairchild / Freescale / Infineon / NXP 

     / ON semi. / NS / Maxim / TI / Xilinx…

Tier 3 : 提供支持與服務(wù)給予電子行業(yè), 車用電子的外包商.

      TSMC / GSMC… 

Q100 : 主動(dòng)組件包含 Single / Multi / Hybrid / Package / Un-Package / Mount on substrate…

Q101 : 離散組件 包含 MOSFET / Diode / LED…

Q200 : 被動(dòng)組件 包括 Capacitor / Resistor / Crystal… 

Q001~Q005 生產(chǎn)支持è設(shè)計(jì)/制造/測(cè)試以上組件的H/W & S/W生產(chǎn)系統(tǒng)的參考.  

AECQ100認(rèn)證測(cè)試周期：

     3-4個(gè)月，提供全面的認(rèn)證計(jì)劃、測(cè)試、報(bào)告等服務(wù)。

AECQ100認(rèn)證測(cè)試地點(diǎn)：

     廣電計(jì)量廣州總部試驗(yàn)室、廣電計(jì)量上海試驗(yàn)室。

AECQ100認(rèn)證業(yè)務(wù)咨詢：

     GRGT李經(jīng)理 138 0884 0060；郵箱：lisz@grgtest.com

資料準(zhǔn)備：

      芯片DataSheet、POD等設(shè)計(jì)資料。

具體測(cè)試項(xiàng)目如下：