軍工芯片、集成電路篩選與量產(chǎn)測(cè)試

       軍工集成電路的篩選方法與程序主要依據(jù)GJB 548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了軍*微電子器件的環(huán)境、機(jī)械、電氣試驗(yàn)方法和試驗(yàn)程序，以及為保證微電子器件滿(mǎn)足預(yù)定用途所要求的質(zhì)量和可靠性而必須的控制和限制措施。

       GJB 548B-2005標(biāo)準(zhǔn)適用于軍*及空間應(yīng)用的微電子器件。如果承制方標(biāo)明或聲稱(chēng)其半導(dǎo)體集成電路符合本標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，則必須滿(mǎn)足方法 5004、5005 或5010（對(duì)復(fù)雜微電路）的要求，混合集成電路應(yīng)滿(mǎn)足GJB 2438的要求，同時(shí)應(yīng)滿(mǎn)足本標(biāo)準(zhǔn)的一般要求和所引用的其他試驗(yàn)方法的要求，而且產(chǎn)品規(guī)范應(yīng)經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)化機(jī)構(gòu)確認(rèn)。

軍工芯片、集成電路篩選方法與程序：

芯片、集成電路老練及參數(shù)測(cè)試要求：

集成電路篩選覆蓋器件：

時(shí)基電路、總線收發(fā)器、緩沖器、驅(qū)動(dòng)器、電平轉(zhuǎn)換器、門(mén)器件、觸發(fā)器、LVDS線收發(fā)器、運(yùn)算放大器、電壓調(diào)整器、電壓比較器、電源類(lèi)芯片（穩(wěn)壓器、開(kāi)關(guān)電源轉(zhuǎn)換器、電源監(jiān)控器、電源管理等）、致模轉(zhuǎn)換器（A/D、D/A、SRD）、存儲(chǔ)器、可編程邏輯器件、單片機(jī)、微處理器、控制器等;

我們的設(shè)備能力：

1.老煉需要的設(shè)備：

Ø 集成電路高溫動(dòng)態(tài)老煉系統(tǒng)、混合集成電路高溫動(dòng)態(tài)老煉系統(tǒng)、

Ø 電源模塊高溫老煉檢測(cè)系統(tǒng)、分立器件綜合老煉檢測(cè)系統(tǒng)、

Ø 分立器件間歇壽命試驗(yàn)系統(tǒng)、電容器高溫老煉檢測(cè)系統(tǒng)、

Ø 繼電器低電平壽命篩選系統(tǒng)、電容高溫反偏老煉系統(tǒng)、

Ø 二極管恒流老煉系統(tǒng)。

2.電測(cè)試需要的設(shè)備：

Ø 阻抗分析儀、高阻計(jì)、耐壓測(cè)試儀、半導(dǎo)體參數(shù)分析儀、

Ø 高精度圖示儀、可編程電源、電子負(fù)載、示波器

Ø 頻譜分析儀。

3.目檢、外觀檢查需要設(shè)備：

Ø 光學(xué)顯微鏡、金相顯微鏡。

4.理化檢測(cè)能力覆蓋：

ü 外觀檢測(cè)、內(nèi)部無(wú)損檢測(cè)、密封性測(cè)試、內(nèi)部缺陷測(cè)試。

公司簡(jiǎn)介：

      廣電計(jì)量檢測(cè)股份有限公司（廣電計(jì)量）從1964年開(kāi)始從事計(jì)量檢定工作，是原信息產(chǎn)業(yè)部電子602計(jì)量站，歷經(jīng)五十余年的技術(shù) 沉淀，持續(xù)變革創(chuàng)新，實(shí)現(xiàn)跨越式發(fā)展，成長(zhǎng)為一家全國(guó)性、綜合化、軍民融合的國(guó)有第三方計(jì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)，獲得了CNAS、DILAC、CMA、CATL，以及“軍工四證”等政府和?業(yè)眾多權(quán)威機(jī)構(gòu)的認(rèn)可資質(zhì)。

        廣電計(jì)量可靠性與環(huán)境試驗(yàn)中心具備環(huán)境與可靠性試驗(yàn)、六性設(shè)計(jì)與分析、元器件篩選與失效分析、仿真設(shè)計(jì)與分析、材料分析與工藝質(zhì)量評(píng)價(jià)、定壽延壽分析等服務(wù)能力，可為系統(tǒng)、整機(jī)、部件等各類(lèi)產(chǎn)品提供從研發(fā)到生產(chǎn)的全過(guò)程技術(shù)解決方案。