集成電路/芯片質(zhì)量一致性檢驗(yàn)

       質(zhì)量一致性檢驗(yàn)是對(duì)電子元器件產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量的一種檢驗(yàn)方式，協(xié)助生產(chǎn)企業(yè)為了確保產(chǎn)品質(zhì)量在不同批次的生產(chǎn)過(guò)程中保持穩(wěn)定而進(jìn)行的質(zhì)量控制方式。

      定期進(jìn)行質(zhì)量一致性檢驗(yàn)，不僅可以隨時(shí)判斷生產(chǎn)產(chǎn)品批質(zhì)量是否符合規(guī)定的要求，而且可以及時(shí)管控生產(chǎn)過(guò)程質(zhì)量的穩(wěn)定性。它可以客觀全面地反映產(chǎn)品在生產(chǎn)過(guò)程及各種使用環(huán)境下的質(zhì)量狀況，從而達(dá)到兩個(gè)目的：在生產(chǎn)過(guò)程中控制產(chǎn)品質(zhì)量；在規(guī)定的周期內(nèi)，保證產(chǎn)品質(zhì)量維持在一定的（民品要求符合產(chǎn)品設(shè)計(jì)要求，J品要求滿足鑒定批準(zhǔn)）質(zhì)量水平。

適用范圍及參考標(biāo)準(zhǔn)：

       電子元器件批量生產(chǎn)階段產(chǎn)品，出于質(zhì)量管控的目的均可委托進(jìn)行檢驗(yàn)。參考標(biāo)準(zhǔn)涉及：GJB 597B 半導(dǎo)體集成電路總規(guī)范、GJB 548B微電子器件試驗(yàn)方法和程序。

質(zhì)量一致性檢驗(yàn)主要包括逐批檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)兩種形式

A組：逐批檢驗(yàn)；

B組：逐批檢驗(yàn)；

C組：每三個(gè)月，監(jiān)控芯片老化一致性；

D組：每六個(gè)月，監(jiān)控封裝/外殼一致性；

E組：逐批檢驗(yàn)。

一、逐批檢驗(yàn)

      逐批檢驗(yàn)是對(duì)每個(gè)提交的檢驗(yàn)批的產(chǎn)品批質(zhì)量，通過(guò)全檢或抽檢，判斷其生產(chǎn)批是否符合規(guī)定要求而進(jìn)行的一種檢驗(yàn)，標(biāo)準(zhǔn)中主要包括A組、B組、E組檢驗(yàn)。

• 檢驗(yàn)批的構(gòu)成通常由同型號(hào)、同等級(jí)、同種類(lèi)、同尺寸、同結(jié)構(gòu)且生產(chǎn)時(shí)間和生產(chǎn)條件大體相同的產(chǎn)品組成。（不一定等于生產(chǎn)批、購(gòu)置批或者為其他目的而組成的批）
• 檢驗(yàn)方法一般按照具體元器件產(chǎn)品的詳細(xì)規(guī)范、分規(guī)范、總規(guī)范、基礎(chǔ)規(guī)范及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的檢查方法進(jìn)行檢驗(yàn)。
• A組檢驗(yàn)是為證實(shí)產(chǎn)品是否符合規(guī)范要求而對(duì)全部產(chǎn)品所進(jìn)行的非破壞性試驗(yàn)。主要用來(lái)檢查那些最易受生產(chǎn)工藝或生產(chǎn)技能變化影響的特性，以及對(duì)于達(dá)到預(yù)定要求至關(guān)重要的性能，檢驗(yàn)項(xiàng)目包括表面檢查（重量、尺寸）、零件和材料（標(biāo)志、顏色、安全、工藝）、預(yù)先性能、性能特性、運(yùn)輸試驗(yàn)等內(nèi)容。經(jīng)過(guò)A組檢驗(yàn)的樣品可作為產(chǎn)品交付。
• B組檢驗(yàn)一般是比A組檢驗(yàn)更復(fù)雜或需要更多試驗(yàn)時(shí)間的一種非破壞抽樣檢驗(yàn)，樣品應(yīng)在經(jīng)過(guò)A組檢驗(yàn)的合格批中隨機(jī)抽取，主要用來(lái)檢查那些受零部件和設(shè)備質(zhì)量影響較大，而受生產(chǎn)工藝或生產(chǎn)技能影響較小的特性，以及那些要求特殊工裝或特殊環(huán)境的性能，檢驗(yàn)項(xiàng)目包括太陽(yáng)輻射、電磁兼容性、穩(wěn)態(tài)電壓和頻率、電源中斷、功率和功率因素、絕緣電阻、介質(zhì)耐壓、外殼、磁性材料、焊接和熱設(shè)計(jì)等內(nèi)容。所需的受試樣品數(shù)量比A組少，經(jīng)過(guò)試驗(yàn)的樣品稍加整修或不加整修即可作為產(chǎn)品交付。

二、周期檢驗(yàn)

      周期檢驗(yàn)是在規(guī)定的周期內(nèi)，從逐批檢驗(yàn)合格的某個(gè)批或若干批中抽取樣本，并施加各種應(yīng)力的各項(xiàng)試驗(yàn)，然后檢測(cè)產(chǎn)品判定其是否符合規(guī)定要求的一種檢驗(yàn)。標(biāo)準(zhǔn)中主要包括C組環(huán)境試驗(yàn)、D組耐久性壽命試驗(yàn)。

1. 檢驗(yàn)批的構(gòu)成樣品應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的抽樣方案和檢查水平及規(guī)定的樣品數(shù)，從本周期內(nèi)經(jīng)逐批檢驗(yàn)合格的一個(gè)批或幾個(gè)批中隨機(jī)抽取，加倍或二次試驗(yàn)的樣品在抽樣時(shí)一次取足。

2. 檢驗(yàn)方法主要包括：

• 常溫性能檢查，試驗(yàn)前在正常工作的條件下，對(duì)被試樣品進(jìn)行定性和定量檢查，判斷產(chǎn)品質(zhì)量是否全面符合產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求，或符合訂貨合同的規(guī)定。由于電子產(chǎn)品種類(lèi)多、用途廣，表征產(chǎn)品特性的技術(shù)參數(shù)很多，常溫性能檢測(cè)時(shí)，應(yīng)嚴(yán)格按照技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定進(jìn)行全部指標(biāo)或部分指標(biāo)檢測(cè)，檢測(cè)合格的產(chǎn)品方可進(jìn)行周期檢驗(yàn)項(xiàng)目中的其他項(xiàng)目檢驗(yàn)。
• 環(huán)境試驗(yàn)：為了評(píng)價(jià)在規(guī)定周期生產(chǎn)批的產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)能力，將經(jīng)過(guò)性能檢測(cè)合格的產(chǎn)品，在人工模擬的環(huán)境條件下試驗(yàn)，以此評(píng)價(jià)產(chǎn)品在實(shí)際使用、運(yùn)輸、貯存環(huán)境條件下的性能是否滿足產(chǎn)品定型鑒定檢驗(yàn)時(shí)達(dá)到的環(huán)境適應(yīng)能力。環(huán)境試驗(yàn)還包括高溫負(fù)荷貯存試驗(yàn)、低溫負(fù)荷貯存試驗(yàn)、高低溫變化試驗(yàn)、交變濕熱和恒定濕熱試驗(yàn)、低氣壓試驗(yàn)、振動(dòng)試驗(yàn)、沖擊碰撞、跌落、加速度試驗(yàn)、鹽霧試驗(yàn)等。由于電子產(chǎn)品使用環(huán)境不一樣，在周期環(huán)境試驗(yàn)中，規(guī)定的環(huán)境試驗(yàn)項(xiàng)目可能是單項(xiàng)試驗(yàn)，也可能是組合或綜合試驗(yàn)。
• C組檢驗(yàn)一般是周期性的破壞性試驗(yàn)，用來(lái)定期檢查那些與產(chǎn)品設(shè)計(jì)及材料有關(guān)的特性，檢驗(yàn)項(xiàng)目包括：高低溫工作及貯存、濕熱、沖擊、顛震、震動(dòng)、傾斜和搖擺、加速壽命、設(shè)備結(jié)構(gòu)噪聲、包裝試驗(yàn)等內(nèi)容。C組檢驗(yàn)通常要求模擬工作環(huán)境，所需的受試樣品的數(shù)量比B組檢驗(yàn)少，而且與生產(chǎn)量或生產(chǎn)周期有關(guān)。除非另有規(guī)定，經(jīng)過(guò)C組檢驗(yàn)的樣品，承制方將發(fā)現(xiàn)的或潛在的損傷修復(fù)后，再經(jīng)過(guò)A組和B組檢驗(yàn)合格后，可以按合同和訂單交付。
• C組檢驗(yàn)適用范圍包括：① 孤立批產(chǎn)品的每一個(gè)提交批；② 產(chǎn)品正常連續(xù)批生產(chǎn)時(shí)，每年進(jìn)行一次；③ 對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行較大設(shè)計(jì)、工藝、材料、元器件更改后的提交批；④ 產(chǎn)品長(zhǎng)期停產(chǎn)后，恢復(fù)生產(chǎn)時(shí)。C組檢驗(yàn)的樣品應(yīng)在經(jīng)過(guò)B組檢驗(yàn)的合格批中隨機(jī)抽取。

      廣電計(jì)量檢測(cè)集團(tuán)股份有限公司（GRGT）-集成電路檢測(cè)與分析事業(yè)部，長(zhǎng)期致力于電子元器件及電子裝備可靠性檢測(cè)、失效分析、質(zhì)量認(rèn)證與驗(yàn)證、 工藝評(píng)價(jià)與過(guò)程監(jiān)控，為客戶提供專(zhuān)業(yè)的質(zhì)量評(píng)價(jià)與可靠性提升技術(shù)解決方案。中心總部位于廣州、分別 在上海、成都和東莞設(shè)立專(zhuān)業(yè)分實(shí)驗(yàn)中心。中心總體實(shí)驗(yàn)設(shè)備400余臺(tái)套，中心技術(shù)人員 165人，其中博士8人，碩士18人、本科以上學(xué)歷68%。

       實(shí)驗(yàn)室擁有CNAS認(rèn)可400余項(xiàng)，認(rèn)可覆蓋GJB7243、GJB548、GJB360、GJB4027等 電子元器件篩選，失效分析和DPA常見(jiàn)的測(cè)試項(xiàng)目，通過(guò)GJB9001B質(zhì)量管理體系認(rèn)證，具備裝備承制單位二級(jí)保密資格。

• 裝備科研生產(chǎn)單位二級(jí)保密資質(zhì)
• 通過(guò)GJB9001C質(zhì)量管理體系認(rèn)證
• 裝備承制單位資格（試驗(yàn)類(lèi)）
• 校準(zhǔn)和測(cè)試實(shí)驗(yàn)室（GJB 2725）認(rèn)可
• 中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可委員會(huì)認(rèn)定的國(guó)家實(shí)驗(yàn)室 （CNAS）認(rèn)證
• 科工局認(rèn)定的國(guó)防實(shí)驗(yàn)室（DILAC）認(rèn)證
• 中航601所電子元器件篩選認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室
• ZF試驗(yàn)鑒定局指定偽空包鑒別實(shí)驗(yàn)室
• 航天一院合格供方
• 中國(guó)工程物理研究院合格供方

項(xiàng)目咨詢：李經(jīng)理

138 0884 0060

lisz@grgtest.com