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電工電子產(chǎn)品低氣壓檢測
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CNAS認(rèn)可項目：是 - 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗M:低氣壓試驗GB/T 2423.21-2008,環(huán)境試驗 第2部分 試驗 試驗M:低氣壓IEC 60068-2-13-1983,電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AM:低溫、低氣壓綜合試驗方法GB/T 2423.25-2008,環(huán)境試驗第二部分 試驗試驗Z/AM:低溫、低氣壓綜合試驗 修正件1（1983）IEC 60068-2-40-1976,電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗Z/BM:高溫、低氣壓綜合試驗方法GB/T 2423.26-2008,環(huán)境試驗 第二部分 試驗 試驗Z/BM:高溫、低氣壓綜合試驗 修正件1（1983）IEC 60068-2-41-1976,電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗M: 低氣壓試驗GB/T 2423.21-2008,環(huán)境試驗 第2部分試驗試驗M:低氣壓IEC 60068-2-13-1983,電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AM:低溫、低氣壓綜合試驗方法GB/T 2423.25-2008,環(huán)境試驗 第2部分 試驗試驗Z/AM:低溫、低氣壓綜合試驗 IEC 60068-2-40-1976,
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