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CNAS認(rèn)可項(xiàng)目：是 - 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB548B-2005方法1004.1,半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB128A-1997方法1021,電子及電氣元件試驗(yàn)方法 GJB360B-2009方法106,電連接器試驗(yàn)方法GJB1217A-2009方法1002 程序II、III,軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 GJB150.9A-2009,半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 GB/T4937-1995第Ⅲ篇第6條,電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) GB/T2423.4-2008 試驗(yàn)Db,電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) GB/T2423.34-2005 試驗(yàn)Z/AD
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