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檢測(cè)認(rèn)證人脈交流通訊錄
電鏡EDS表面成分組織觀察晶粒度膜厚檢測(cè)
這真不是您需要的服務(wù)？
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對(duì)應(yīng)法規(guī)：根據(jù)客戶需要
CNAS認(rèn)可項(xiàng)目：是 - 掃描電子顯微鏡（SEM） X射線能譜儀（EDS） 掃描電子顯微鏡利用二次電子或背散射電子成像，對(duì)樣品表面放大一定的倍數(shù)進(jìn)行形貌觀察，最大放大倍數(shù)可達(dá)80萬倍，同時(shí)利用電子激發(fā)出樣品表面的特征X射線來對(duì)微區(qū)的成分進(jìn)行定性定量分析。 測(cè)試范圍與服務(wù)項(xiàng)目：各種固體材料的形貌分析、微區(qū)化學(xué)成分檢測(cè)，樣品成分的線分布和面分布分析，表面成分分析。
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