落下試驗(yàn)(Drop Test) 落下試驗(yàn)之目的通常為模擬兩種落下情況，一種為產(chǎn)品在運(yùn)輸過(guò)程中因裝載或搬運(yùn)不慎造成掉落地面所遭受之撞擊，此種掉落環(huán)境通常產(chǎn)品為包裝狀態(tài)(Package)，另一種環(huán)境系針對(duì)手持型產(chǎn)品(Hand Held Product)在未包裝保護(hù)狀態(tài)下因使用不當(dāng)而使產(chǎn)品掉落地面產(chǎn)生撞擊。 通常掉落高度大都根據(jù)產(chǎn)品重量以及可能掉落機(jī)率(drop probability)做為參考基準(zhǔn)，但對(duì)于不同國(guó)際規(guī)范即使產(chǎn)品在相同重量下但掉落高度亦不盡相同，對(duì)于手持型產(chǎn)品(如手機(jī)、MP3等)大多數(shù)掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等，IEC對(duì)于≦2kg之手持型產(chǎn)品建議應(yīng)滿足100cm之掉落高度不可損壞，MIL則建議掉落高度為122cm，Intel對(duì)手持型產(chǎn)品(如手機(jī))進(jìn)行之調(diào)查則建議落下高度為150cm。