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高加速壽命試驗
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對應法規(guī)：Highly Accelerated Life Test-HALT/HASA/HSAA
CNAS認可項目：是

高加速壽命試驗(Highly Accelerated Life Test-HALT/HASA/HSAA) 加速應力試驗源由Accelerated Stress Test，簡稱AST/ALT，源起于1960年代因應美國太空計劃對高可靠度的需求而被發(fā)展出來。隨著科技高度發(fā)展及快速變化的市場需求，過去耗時的產(chǎn)品驗證方式已無法應付如此快速變化的市場需求，進而影響到產(chǎn)品于市場之競爭力。因此，如何快速且有效發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設計缺陷并于設計階段加以修正，為現(xiàn)今國內(nèi)外各大廠之主要關鍵問題，亦即是HALT&HASS逐漸被重視的原因。眾所皆知，產(chǎn)品在設計階段進行缺陷修正是極為容易的，在大量生產(chǎn)后進行缺陷修正則困難度相對提高。微利時代若產(chǎn)品在市場于保固期內(nèi)出現(xiàn)缺陷則所花費成本與商譽損失將無法計算。因此1990年代后以美國為首的國際各大廠(包括hp、Dell、Cisco、Nortel、Tetronix、 Motorola等)均相繼以HALT手法作為新產(chǎn)品開發(fā)階段迅速找出產(chǎn)品設計及制造的缺陷，同時改善缺陷已達降低保固期成本、增加產(chǎn)品可靠度并縮短產(chǎn)品上市時間。同時可利用HALT所發(fā)現(xiàn)之失效模式與相關數(shù)據(jù)做為后續(xù)研發(fā)產(chǎn)品的重要依據(jù)。目前有航空電子、汽車及信息等高科技產(chǎn)業(yè)皆已投入HALT 領域之測試，并且已有相當成效。高加速壽命試驗( Highly Accelerated Life Testing –簡稱HALT) 高加速壽命試驗系利用漸進提升應力方式施加于產(chǎn)品，施加應力種類包括六自由度振動、高低溫、快速溫度循環(huán)、復合式應力、電力開關循環(huán)、電壓邊際及頻率邊際測試等。

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