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機電設(shè)備及電子電工產(chǎn)品溫度/低氣壓綜合試驗檢測
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CNAS認(rèn)可項目：是 - GB/T 2423.25-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗,GB/T 2423.26-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗,GJB 150.6-1986 軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 溫度－高度試驗,GB/T 2423.25-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗,GB/T 2423.26-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗,GJB 150.6-1986 軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 溫度－高度試驗
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