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特大型設(shè)備低氣壓試驗 26m3和43m3的高低溫低氣壓試驗箱
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對應(yīng)法規(guī)：特大型設(shè)備低氣壓試驗 26m3和43m3的高低溫低氣壓試驗箱
CNAS認(rèn)可項目：是

低氣壓試驗就是將試驗樣品放入試驗箱(室)，然后將箱(室)內(nèi)氣壓降低到有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的值，并保持規(guī)定持續(xù)時間的試驗。其目的主要用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在在貯存、運輸和使用中對低氣壓環(huán)境的適應(yīng)性。低氣壓所依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)有： GB2421-1989《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程總則》 GB/T2423.25-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗方法》 GB/T2423.26-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM ：高溫/低氣壓綜合試驗方法》 GB2423.27-2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗方法》 GB2423.27-2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗方法》 GB/T2424.15-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程溫度/低氣壓綜合試驗導(dǎo)則》[1] GB T 2423.21-1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M 低氣壓試驗方法 GJB 150.2-1986軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法　低氣壓（高度）試驗. 若有大型設(shè)備需要做低溫低氣壓、高溫低氣壓試驗的可以聯(lián)系我們，我單位有26m3和43m3高低溫低氣壓試驗箱，可承重2-3噸的設(shè)備做檢測。聯(lián)系人 133 9150 6782，010-6780 7612 鐘先生，郵箱：kkx@KKXtest.com

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