檢測認(rèn)證人脈交流通訊錄
半導(dǎo)體集成電路外殼部分項(xiàng)目檢測
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對(duì)應(yīng)法規(guī):
CNAS認(rèn)可項(xiàng)目:是
- 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB548A-1996方法5005A,微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB548B-2005方法5005,半導(dǎo)體集成電路外殼總規(guī)范 GJB1420A-1999
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