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電氣電子產(chǎn)品鹽霧（腐蝕）檢測
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CNAS認(rèn)可項目：是 - 《微電子器件試驗方法和程序》GJB548A-1996方法1009A,《微電子器件試驗方法和程序》GJB548B-2005方法1009.2,《半導(dǎo)體分立器件試驗方法》GJB128A-1997方法1041、1046,《電子及電氣元件試驗方法》GJB360A-1996方法101,《電子及電氣元件試驗方法》GJB360B-2009方法101,《軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 鹽霧試驗》GJB150.11-1986,《軍用裝備試驗室環(huán)境方法 第11部分：鹽霧試驗》GJB150.11A-2009,《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Ka：鹽霧》GB/T2423.17-2008,《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法 試驗Kb：鹽霧、交變》GB/T2423.18-2000,《微電子器
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