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表面異物分析
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CNAS認(rèn)可項目：是 - 表面異物分析是指對產(chǎn)品表面的微小異物或表面污染物、析出物進行成分分析的技術(shù)，例如對表面嵌入異物、斑點、油狀物、噴霜等異常物質(zhì)進行定性分析，藉此找尋污染源或配方不相容者，是改善產(chǎn)品最常用的分析方法之一。 根據(jù)異物的實際情況選擇不同的測試方法： 1. FTIR——如果異物是有機物，通常選用顯微紅外光譜儀進行分析，獲得異物的官能團信息，與標(biāo)準(zhǔn)譜庫進行檢索，確定異物的主要成分； 2. SEM+EDS——如果異物是金屬或者氧化物，并且沒有明確的官能團信息，通常選用電子顯微鏡-X射線能譜分析儀(SEM+EDS)對異物或材料表面進行元素成分分析。 3. XPS——如果異物是金屬或者氧化物，并且沒有明確的官能團信息，同時是在材料極表面（納米級別）時，通常選用X射線光電子能譜儀（XPS）進行元素成分分析。 常見的異物分析案例有：PCB板上的助焊劑殘留、金屬件的表面氧化物、PVC線皮析出的物質(zhì)、螺母的表面油污、塑膠制品中夾雜的白色顆粒、顯示屏上的外來物、銅絲表面發(fā)黑、焊錫發(fā)黑等。
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