檢測認(rèn)證人脈交流通訊錄
薄膜太陽能電池CIGS/CdTe分析儀 SMX-BEN
- SMX-BEN
薄膜太陽能電池CIGS/CdTe分析儀
(Solar PV thin film CIGS, silicon-free substrates)
產(chǎn)品特色∶
1. 全球唯一能提供NIST等級的標(biāo)準(zhǔn)樣品,與美國NREL共同合作。
2. 超大樣品室,H:56cmXW;54cmXD74cm
3. 可直接儲存及建立各種鍍層的Protocol參數(shù),可設(shè)定多點(diǎn)分析,以確定制程品
質(zhì)。
4. 針對CIGS各種鍍層材質(zhì)的濾光片,共5種
5. X-Y-Z三軸自動定位,軸承最長距離為8”X8”X6”,并有自動聚焦弁?/div>
6. 具有表面相對等距自動調(diào)整系統(tǒng)
7. 采用自然光,LED白光,無色差
8. 采用最新高科技的高靈敏度的電子式冷卻偵測器
9. 具有防撞安全裝置
10. 具有操作時輻射安全裝置
11. 可將實(shí)驗(yàn)室建立的數(shù)據(jù)直接復(fù)制至線上檢測機(jī)臺上。
基本規(guī)范:
X射線發(fā)生部 電壓 最大50kV,多段電壓切換
電流 4-1000μA,可做自動調(diào)整設(shè)定
準(zhǔn)直器 共五個
偵測器 Pin or Si
檢測器 冷卻方式 電子冷卻
五種濾波器自動切換
電源 AC110~240V, 50/60 Hz
應(yīng)用領(lǐng)域:
鍍層厚度分析
(1)分析CIGS各鍍層的厚度及成份同時測量。
(2)分析CdTe之各鍍層的厚度及成份同時測量。
(3)三、五族元素各鍍層的成分比例及厚度分析。
深圳市儀高南儀器有限公司
劉偉剛
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