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定制款高低溫測(cè)試箱

　　定制款高低溫測(cè)試箱芯片老化驗(yàn)證　　這款定制款高低溫測(cè)試箱專為芯片老化驗(yàn)證設(shè)計(jì)。它能精準(zhǔn)模擬芯片實(shí)際工作中的高低溫環(huán)境，溫度范圍廣，可低至 - 40℃ ，高至 150℃，且溫度控制精度達(dá) ±0.5℃，均勻度達(dá) ±2℃，確保芯片在不同溫度下老化測(cè)試的準(zhǔn)確性。設(shè)備內(nèi)膽采用 SUS304 不銹鋼，抗腐蝕能力強(qiáng)，可避免因腐蝕影響測(cè)試結(jié)果。此外，它還配備多重安全保護(hù)裝置，保障測(cè)試過(guò)程安全可靠，是芯片老化驗(yàn)證的得力工具。　　型號(hào)：SMD-252PF 　　功率: 4.5(KW) 　　溫度范圍: -70℃～150℃ 　　范圍; 10～98%R.H 　　波動(dòng)/均勻度: ±0.5℃/±2℃ 　　偏差: +2、-3%R.H 　　升溫速率: 1.0～3.0℃/min 　　降溫速率: 0.7～1.0℃/min 　　控制器: 進(jìn)口微電腦溫集成控制器(TEMI990) 　　精度范圍: 設(shè)定精度：溫度±0.1℃、±1%R.H，指示精度：溫度±0.1℃、±1%R.H 　　定制款高低溫測(cè)試箱　　http://www.ghttest.com/Products-13176658.html 　　https://www.gkzhan.com/st171759/product_13176658.html

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