晶體管直流參數(shù)測試系統(tǒng)ST-DC2000

晶體管直流參數(shù)測試系統(tǒng)ST-DC2000

基礎(chǔ)信息

測試分析：功率器件研發(fā)設(shè)計(jì)階段的初始測試

失效分析：失效器件測試，失效機(jī)理，設(shè)計(jì)方案改善

選型配對：器件焊接PCB之前測試，按器件一致性分類配對

來料檢驗(yàn)：質(zhì)量部對入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢，把控良品率

量產(chǎn)測試：連接機(jī)械手、掃碼槍、分選機(jī)等進(jìn)行量產(chǎn)測試

晶體管直流參數(shù)測試系統(tǒng)ST-DC2000

產(chǎn)品特點(diǎn)

三代半：優(yōu)秀的性能應(yīng)對第三代半導(dǎo)體及傳統(tǒng)器件，Si,sic,GaN器件

測試品類：覆蓋25類常見的電子元器件及IC類，且支持定制擴(kuò)展

功能豐富：輕松表征元器件“靜態(tài)特性”“IV曲線”“Cxss”“CV”

分析篩選：功能全面，配置豐富，勝任實(shí)驗(yàn)室場景中各類電參數(shù)表征

量產(chǎn)測試：1h高達(dá)7K~12K的測試效率，可連接“分選機(jī)”“編帶 機(jī)”Prober接口、16Bin。

一鍵加熱：一鍵脈沖自動加熱至+130°C，耗時<1s;

高壓源：1400V(選配2KV)

高流源：40A(選配100A,200A,500A)

驅(qū)動電壓：20V/10uA~100mA(選配+40V/10uA~100mA)

漏電測量：1nA漏電持續(xù)穩(wěn)定測量，表現(xiàn)出優(yōu)秀的一致性和穩(wěn)定性，更有1.5pA微電流測量選件可供選擇。

高精度：16位ADC/DAC，0.1%精度，1M/S采樣速率.

程控軟件：基于LabVIEW平臺開發(fā)的填充式菜單軟件界面:

夾具工裝：適配各類封裝形式的器件，自動識別器件極性NPN/PNP.

校準(zhǔn)：系統(tǒng)自帶校準(zhǔn)軟件，也可通過RS232接口連接數(shù)字表進(jìn)行校驗(yàn)

晶體管直流參數(shù)測試系統(tǒng)ST-DC2000

測試品類

01.Diode/二極管（穩(wěn)壓、瞬態(tài)、三端肖特基、TVS、整流橋、三相整流橋）

02.BJT/三極管

03.Mosfet&JFET/場效應(yīng)管

04.SCR/可控硅（單向/雙向）

05.IGBT/絕緣柵雙極大功率晶體管

06.OC/光耦

07.Relay/繼電器

08.Darlingtontube/達(dá)林頓陣列

09.Currentsensor/電流傳感器

10.基準(zhǔn)IC(TL431)

11.電壓復(fù)位IC

12.穩(wěn)壓器（三端/四端）

13.三端開關(guān)功率驅(qū)動器

14.七端半橋驅(qū)動器

15.高邊功率開關(guān)

16.電壓保護(hù)器（單組/雙組）

17.開關(guān)穩(wěn)壓集成器

18.壓敏電阻

19.電壓監(jiān)控器

晶體管直流參數(shù)測試系統(tǒng)ST-DC2000

測試參數(shù)

漏電參數(shù)：IR、ICBO、LCEO/S/X、IDSS/X、IDOFF、IDRM、IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、IR(OPTO)

擊穿參數(shù)：BVCEOBVCES(300μSPulseabove10mA)BVDSS、VD、BVCBO、VDRM、VRRM、VBB、BVR、VD+、VD-、BVDGO、BVZ、BVEBO、BVGSS、BVGKO

導(dǎo)通參數(shù)：VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VTM、VGETH、VSD、IDON、VSAT、IDON、VO(Regulator)Notch=IGT1、IGT4、ICON、VGEON、、IIN(Regulator)

關(guān)斷參數(shù)：VGSOFF

觸發(fā)參數(shù)：IGT、VGT

保持參數(shù)：IH、IH+、IH-

鎖定參數(shù)：IL、IL+、IL-

增益參數(shù)：hFE、CTR、gFS

間接參數(shù)：IL

混合參數(shù)：RDSON、gFS、Input@Output/Regulation

晶體管直流參數(shù)測試系統(tǒng)ST-DC2000