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麥奇克納米粒度及zeta電位儀的測量原理

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主要規(guī)格：

用　　途：

　　納米粒度測量——優(yōu)良的動態(tài)光背散射技術(shù) 　　Zeta電位測量：MicrotracMRB以其在激光衍射/散射技術(shù)和顆粒表征方面的獨到見解，經(jīng)過多年的市場調(diào)研和潛心研究，開發(fā)出新一代NANOTRACWAVEII微電場分析技術(shù)，融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測量于一體，無需傳統(tǒng)的比色皿，一次進(jìn)樣即可得到準(zhǔn)確的粒度分布和Zeta電位分析數(shù)據(jù)。與傳統(tǒng)的Zeta電位分析技術(shù)相比，NANOTRACWAVEII采用優(yōu)良的“Y"型光纖探針光路設(shè)計，配置膜電極產(chǎn)生微電場，操作簡單，測量迅速，無需精確定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導(dǎo)致的靜止層，無需外加大功率電場，無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池，*消除由于空間位阻（不同光學(xué)元器件間的傳輸損失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差異，分散介質(zhì)的影響，顆粒間多重散射等）帶來的光學(xué)信號的損失，結(jié)果準(zhǔn)確可靠，重現(xiàn)性好。　　測量原理：　　粒度測量：動態(tài)光背散射技術(shù)和全量程米氏理論處理　　Zeta電位測量：膜電極設(shè)計與“Y"型探頭形成微電場測量電泳遷移率　　分子量測量：水力直徑或德拜曲線　　光學(xué)系統(tǒng)：　　3mW780nm半導(dǎo)體固定位置激光器，通過梯度步進(jìn)光纖直接照射樣品，在固定位置用硅光二極管接受背散射光信號，無需校正光路　　軟件系統(tǒng)：　　優(yōu)良的FLEX軟件提供強大的數(shù)據(jù)處理能力，包括圖形，數(shù)據(jù)輸出/輸入，個性化輸出報告，及各種文字處理功能，如PDF格式輸出,Internet共享數(shù)據(jù)，MicrosoftAccess格式（OLE）等。體積，數(shù)量，面積及光強分布，包括積分/微分百分比和其他分析統(tǒng)計數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)的完整性符合21CFRPART11安全要求，包括口令保護(hù)，電子簽名和指定授權(quán)等。　　麥奇克納米粒度及zeta電位儀如有需要歡迎訪問以下網(wǎng)址與我們?nèi)〉寐?lián)系　　http://www.chem17-dksh.com/Products-347598.html 　　https://www.chem17.com/st976/product_347598.html

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