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CMI900X射線熒光測(cè)厚儀

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品　　牌：

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出廠價(jià)：
0

主要規(guī)格：
CMI900

用　　途：
X射線熒光測(cè)厚儀

CMI900系列X射線熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析。基于Windows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應(yīng)用軟件包，實(shí)現(xiàn)了對(duì)CMI900/950主機(jī)的全面自動(dòng)化控制，分析中不需要任何手動(dòng)調(diào)整或手動(dòng)參數(shù)設(shè)定。可同時(shí)測(cè)定最多5層、15種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式，以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求；如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。 CMI900系列X射線熒光測(cè)厚儀能夠測(cè)量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測(cè)量點(diǎn)最小可達(dá)0.025 x 0.051毫米。技術(shù)參數(shù)： CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x,在技術(shù)上一直以來都領(lǐng)先于全世界的測(cè)厚行業(yè) A CMI 900 能夠測(cè)量包含原子序號(hào)22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測(cè)量合金材料的成份百分含量可同時(shí)測(cè)定最多5層、15 種元素。 B ：精確度領(lǐng)先于世界，精確到0。025um (相對(duì)與標(biāo)準(zhǔn)片) C ：數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式，以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求；如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、CAD文件等。 D ：統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。 CMI900/950系列X射線熒光測(cè)厚儀能夠測(cè)量多種幾何形狀各種尺寸的樣品； E ：可測(cè)量任一測(cè)量點(diǎn)，最小可達(dá)0.025 x 0.051毫米

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薛勇

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