產(chǎn)品簡介:CMI900／950系列X射線螢光測厚儀能夠及時分析黃金和其他貴重金屬。印刷電路板和電子元件制造商以及金屬表面處理專業(yè)廠家也可以從我們測量鍍層厚度和成分的先進(jìn)技術(shù)中獲益。

　　適用產(chǎn)業(yè):用於電子元件、半導(dǎo)體、PCB印刷電路板、汽車零件、功能性電鍍、連接器、裝飾件

　　-------------------------------------------------------------精度高、穩(wěn)定性好

　　強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、處理功能

　　測量范圍寬

　　NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片

　　全球服務(wù)及支持

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　　技術(shù)參數(shù)

　　主要規(guī)格規(guī)格描述X射線激發(fā)系統(tǒng)垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)空冷式微聚焦型X射線管，Be窗標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)-標(biāo)準(zhǔn)75W(4-50kV，0-1.5mA)-任選裝備有安全防射線光閘二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng)最多可同時裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選：-圓形，如4、6、8、12、20 mil等-矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等測量斑點(diǎn)尺寸在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點(diǎn)尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器)在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點(diǎn)尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器)樣品室CMI900 CMI950 -樣品室結(jié)構(gòu)開槽式樣品室開閉式樣品室-最大樣品臺尺寸610mm x 610mm 300mm x 300mm -XY軸程控移動范圍標(biāo)準(zhǔn)：152.4 x 177.8mm還有5種規(guī)格任選300mm x 300mm -Z軸程控移動高度43.18mm XYZ程控時，152.4mm XY軸手動時，269.2mm -XYZ三軸控制方式多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制-樣品觀察系統(tǒng)高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。激光自動對焦功能可變焦距控制功能和固定焦距控制功能計(jì)算機(jī)系統(tǒng)配置IBM計(jì)算機(jī)惠普或愛普生彩色噴墨打印機(jī)分析應(yīng)用軟件操作系統(tǒng)：Windows2000中文平臺分析軟件包：SmartLink FP軟件包-測厚范圍可測定厚度范圍：取決于您的具體應(yīng)用。-基本分析功能采用基本參數(shù)法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品。樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)可檢測元素范圍：Ti22–U92

　　可同時測定5層/15種元素/共存元素校正貴金屬檢測，如Au karat評價

　　材料和合金元素分析，材料鑒別和分類檢測液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量多達(dá)4個樣品的光譜同時顯示和比較元素光譜定性分析-調(diào)整和校正功能系統(tǒng)自動調(diào)整和校正功能，自動消除系統(tǒng)漂移-測量自動化功能鼠標(biāo)激活測量模式：“Point and Shoot”多點(diǎn)自動測量模式：隨機(jī)模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復(fù)測量模式測量位置預(yù)覽功能激光對焦和自動對焦功能-樣品臺程控功能設(shè)定測量點(diǎn)連續(xù)多點(diǎn)測量測量位置預(yù)覽(圖表顯示)

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　　-統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對標(biāo)準(zhǔn)偏差、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、數(shù)據(jù)編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖數(shù)據(jù)庫存儲功能任選軟件：統(tǒng)計(jì)報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書-系統(tǒng)安全監(jiān)測功能Z軸保護(hù)傳感器樣品室門開閉傳感器

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