檢測認(rèn)證人脈交流通訊錄
冠層分析系統(tǒng)對板栗葉面積指數(shù)的計算方法
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冠層分析系統(tǒng)是一種半球形的成像技術(shù),可以方便、準(zhǔn)確測定光學(xué)輻射和樹冠結(jié)構(gòu)參數(shù),具有良好的穩(wěn)定性,使用更多的森林和農(nóng)田生態(tài)系統(tǒng)。植物樹冠內(nèi)的光環(huán)境在很大程度上取決于樹本身的結(jié)構(gòu)。目前,已經(jīng)有學(xué)者將冠層分析系統(tǒng)用在蘋果、梨、柿、核桃等果樹上,研究其冠層結(jié)構(gòu)光輻射特征,作為判斷樹體結(jié)構(gòu)是否合理的重要指標(biāo),但針對板栗冠層結(jié)構(gòu)光輻射特征的研究甚少。
葉面積指數(shù)是研究植物許多生物化學(xué)過程的關(guān)鍵參數(shù)和研究植被冠層結(jié)構(gòu)的重要指標(biāo),其大小與植被種類、生長周期、葉傾角、葉簇以及非葉生物量等因素有關(guān),此外還受葉面積指數(shù)的定義和冠層分析系統(tǒng)測定方法的影響。因此,對于特定對象應(yīng)該選擇適宜不同算法。以LAI為體系的基本反演算法,在對葉面積指數(shù)進(jìn)行數(shù)據(jù)分析之前,應(yīng)篩選出適宜板栗葉面積指數(shù)的計算方法,而冠層分析系統(tǒng)試驗中往往忽略了這一步,只是盲目的參考已有的計算方法。
除平均葉傾角和冠上總輻射以外,其他冠層特征參數(shù)因樹體不同差異很大。平均葉傾角與其他冠層結(jié)構(gòu)光輻射參數(shù)間的相關(guān)性不顯著,冠層分析系統(tǒng)分析冠上輻射與冠下輻射間的相關(guān)性不顯著,其他冠層結(jié)構(gòu)光輻射參數(shù)間均存在極顯著相關(guān)性。
資料來源:http://www.tpny17.com/ 冠層分析系統(tǒng)
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