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檢測認(rèn)證人脈交流通訊錄
- 品牌：CRAIC Technologies 型號：QDI 2010 QDI 2010 全光譜（紫外-可見-近紅外）顯微分光光度計。 QDI 2010™最先進(jìn)的紫外可見近紅外顯微分光光度分析系統(tǒng)。 無損測量樣品的透射，反射，熒光和偏振光譜，采樣面積可以小于1微米，適合做樣品的顯微光譜分析。 測試OLED平板顯示器： OLED平板顯示器代表了最新顯示技術(shù)。QDI系列顯微分光光度計可用于開發(fā)，分析和質(zhì)量控制RGB和寬帶電致發(fā)光磷光體，RGB和寬帶電致發(fā)光磷光體用于制造下一代新型平板顯示器。 QDI 2010 TM 堪稱紫外可見近紅外顯微分光光度計的新標(biāo)準(zhǔn)。 QDI 2010TM 能夠?qū)︼@微樣品一次掃描完成從深紫外光到近紅外光譜的采集。能夠分析各種樣品，從紡織品纖維到200毫米的半導(dǎo)體硅晶片，從納米材料到光子晶體，無論是實驗室還是工廠，QDI 2010 TM 都是理想的分析儀器。 QDI 2010™的預(yù)校正光譜儀配備科研級陣列探測器（CCD或PDA）。 每個陣列探測器都可選配半導(dǎo)體冷卻器制冷以達(dá)到最低的噪聲和長期穩(wěn)定性，確保儀器獲得最佳信噪比。采用科研級紫外-可見光-近紅外顯微鏡，高分辨率彩色數(shù)字成像系統(tǒng)，紫外屏蔽目鏡，計算機服務(wù)器預(yù)裝WINDOWS XP 操作系統(tǒng)，綜合性的儀器控制／光譜分析軟件包。 QDI 2010™ 操作簡單，耐用，為使用者提供最優(yōu)質(zhì)的測試分析結(jié)果。
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