檢測認(rèn)證人脈交流通訊錄
- 產(chǎn)品介紹:
HS-MWR-SIM無接觸少子壽命測試儀是一款功能強(qiáng)大的無接觸少子壽命測試儀,能夠?qū)尉Ч璋?、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷單點(diǎn)少子壽命測試,其通過微波光電衰退特性原理來測量非平衡載流子壽命的,并且單晶硅棒、多晶硅塊無須進(jìn)行特殊處理。少子壽命測試量程從0.1μs到20ms,電阻率量程為>0.1Ω.cm,,是太陽能電池硅片企業(yè)、多晶鑄錠企業(yè)、拉晶企業(yè)不可多得的測量儀器。
產(chǎn)品特點(diǎn)
■ 無接觸和無損傷測量
■ 可移動掃描頭,便于測量
■ 測試范圍廣:包括硅塊、硅棒、硅片等少子壽命測量
■ 主要應(yīng)用于硅棒硅塊、硅片的進(jìn)廠、出廠檢查,生產(chǎn)工藝過程中重金屬沾污和缺陷的監(jiān)控等
■ 性價(jià)比高,極大程度地降低了企業(yè)的測試成本
■ 質(zhì)保期:1年
推薦工作條件
■ 溫度:15-30℃
■ 濕度:10%~80%
■ 大氣壓:750±30毫米汞柱
技術(shù)指標(biāo)
■ 少子壽命測試范圍:0.1μs-20ms
■ 測試尺寸:尺寸不限
■ 測試時(shí)間:1-30s(具體和信號質(zhì)量及測試精度有關(guān))
■ 電阻率范圍:>0.1Ω.cm
■ 激光波長:980±30nm,測試功率范圍:50-500mw,脈沖寬度調(diào)節(jié)范圍:0.5-60μs
■ 儀器測試精度:±3.5%
■ 工作頻率:10GHz±0.5
■ 微波測試單元功率:0.01W±10%
■ 電源:~220V 50Hz 功耗<30W
■ 掃描頭尺寸:290mm *200mm *65mm, 電器控制單元: 210mm*220mm*60mm
■ 掃描頭重量:3KG,電器控制單元:1kg
典型客戶
河北,江西,江蘇,浙江,新疆等地拉晶鑄錠客戶。
北京合能陽光新能源技術(shù)有限公司
肖宗鏞
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- 北京市通州區(qū)工業(yè)開發(fā)區(qū)光華路16號
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