檢測認(rèn)證人脈交流通訊錄
HS-T50無接觸厚度TTV電阻率綜合測試系統(tǒng)
- 產(chǎn)品簡介
HS-T50無接觸厚度TTV電阻率綜合測試系統(tǒng)是一款廣泛應(yīng)用于太陽能電池片制造過程中對表面厚度TTV電阻率無損測量的專業(yè)儀器。該儀器適用于Si,GaAs,InP,Ge等幾乎所有的材料,所有的設(shè)計(jì)都符合ASTM(美國材料實(shí)驗(yàn)協(xié)會)和Semi標(biāo)準(zhǔn),確保與其他工藝儀器的兼容與統(tǒng)一。
產(chǎn)品特點(diǎn)
■ 無接觸無損傷測量
■ 適用的晶圓材料包括Si,GaAs,InP,Ge等幾乎所有的材料
■ 抗干擾強(qiáng),穩(wěn)定性好
■ 強(qiáng)大的工控機(jī)控制和大屏幕顯示
■ 一體化設(shè)計(jì)操作更方便,系統(tǒng)穩(wěn)定
■ 為晶圓硅片關(guān)鍵生產(chǎn)工藝提供精確的無接觸測量
技術(shù)指標(biāo)
■ 測試尺寸:50mm- 300mm.
■ 厚度測試范圍:1000 um,可擴(kuò)展到1700 um.
■ 測試精度:+/-0.25um
■ 電阻率測試范圍:0.1-50 ohm.cm
■ 測量精度:2%
■ 晶圓硅片類型:單晶或多晶硅
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