在釉瓷的燒結(jié)過程中，陶瓷體與釉料之間存在相互作用并可能形成中間層。釉料應(yīng)力測(cè)試儀，其測(cè)試原理為在上釉的棒狀樣品施加應(yīng)力，在升降溫過程中記錄相應(yīng)的彎曲情況。由彎曲的方向與程度，可推算拉伸與壓縮應(yīng)力，并獲取在釉瓷的燒結(jié)過程中 特定應(yīng)力變化發(fā)生的溫度范圍。該測(cè)試儀的主要應(yīng)用范圍為釉瓷與相關(guān)釉料生產(chǎn)領(lǐng)域的工藝控制，同時(shí)也適用于對(duì)上釉的金屬材料進(jìn)行研究。
主要技術(shù)參數(shù)
1.溫度范圍：1000℃ ，1400℃，1600℃可供選擇；
2.升降溫速率：0.01 到 20 K/min （可設(shè)定），智能控溫；
3.樣品支架：金屬（螺旋夾具）；4.檢測(cè)系統(tǒng)：LVDT差動(dòng)式電感位移計(jì)；5.測(cè)量范圍：5000 μm（彎曲量）；
6.樣品尺寸：長(zhǎng)度 260 mm，寬度 12mm 左右，厚度 6mm 左右。中間約 80 mm 的部位須上釉 
7.測(cè)量氣氛：空氣，靜態(tài)，或其他用戶要求的特定氣體。 
8.測(cè)量與分析軟件是基于 Windows xp/sp2，包含了測(cè)量功能和數(shù)據(jù)分析功能。軟件具有極其友善的中文操作用戶界面，包括易于理解的菜單操作和自動(dòng)操作流程。 軟件可安裝在儀器的控制電腦上聯(lián)機(jī)工作。顯示相對(duì)彎曲（以釉料的完全軟化作為應(yīng)力分析的參考零點(diǎn)）起始點(diǎn)，峰值與終止點(diǎn)的標(biāo)注對(duì)曲線作一階微分，以獲取相應(yīng)于溫度或時(shí)間坐標(biāo)的彎曲速率。9. 加熱功率不小于3KW，電壓220V或380V；